[實用新型]三維表面形貌的測量臺架

有效

• 申請號: 201120569166.7
• 申請日: 2011-12-30
• 公開（公告）號: CN202452968U
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發明（設計）人: 潘曉彬;宋恭杰;舒曉模
• 申請（專利權）人: 寧波大學
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙) 33228
• 代理人: 李迎春

技術領域

本實用新型涉及一種零部件三維表面形態粗糙度的測量裝置，具體講是一種三維表面形貌的測量臺架。

背景技術

人們通過長期的機械加工實踐認識到：零件表面粗糙度對于動力消耗、摩擦系數、零部件之間配合的穩定性和可靠性、噪音和振動、疲勞強度等方面均起著關鍵性的作用，也可以說零部件表面的粗糙度會直接影響了儀器和機械的使用性能和使用壽命。

現有技術的形貌測量臺架為二維測量臺架，該臺架包括一測量儀、一平臺、一X軸移動裝置以及一Y軸移動裝置，所述的X軸移動裝置安裝在平臺上；所述的Y軸移動裝置安裝在X軸移動裝置上；所述的測量儀設在Y軸移動裝置上。上述結構的形貌測量臺架在實際的使用過程中存在以下缺陷：由于是二維的測量臺架，因此其測量范圍較小且由于缺少一維的測量，因此需要頻繁地調動被測試件的位置、頻繁測量，從而導致現有的二維測量臺架的測量工作量大且測量精度較低。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是，克服以上現有技術的缺陷，提供一種測量范圍大、測量工作量小且測量精度高的三維表面形貌的測量臺架。

本實用新型的技術方案是，提供一種三維表面形貌的測量臺架，包括一測量儀、一測量平臺、一X軸移動裝置以及一Y軸移動裝置，所述的X軸移動裝置安裝在測量平臺上；所述的Y軸移動裝置安裝在X軸移動裝置上；所述三維表面形貌的測量臺架還包括一Z軸移動裝置，所述的Z軸移動裝置安裝在Y軸移動裝置上；所述的測量儀設在Z軸移動裝置上。

采用以上結構后，本實用新型與現有技術相比，具有以下優點：

在三維表面形貌的測量臺架工作前，將該臺架的X軸移動裝置以及Y軸移動裝置移動至測量平臺的右上角，再將Z軸移動裝置移動至最上端，再將需要測量的物件至于測量平臺的某一位置，然后調節X、Y、Z三軸的位置，使得測量儀的觸針觸及所需位置即可。本實用新型三維表面形貌的測量臺架由于是一個三維的測量臺架，因此其測量范圍大，因此在測量過程中大大減少了調動被測試件位置的次數以及頻繁測量的次數，因此測量工作量小且測量精度高。

作為改進，所述的測量儀球接在Z軸移動裝置上，這樣就可以測量斜面的三維形貌了，從而使得其測量范圍更為廣闊。

作為改進，所述的X軸移動裝置、Y軸移動裝置以及Z軸移動裝置均為滾珠絲杠式移動裝置，由于滾珠絲杠具有精度高、運動效率高的優點，因此使得本實用新型三維表面形貌的測量臺架的測量精度得以進一步保證。

附圖說明

圖1是本實用新型三維表面形貌的測量臺架第一方位的結構示意圖。

圖2是本實用新型三維表面形貌的測量臺架第二方位的結構示意圖。

圖中所示1、測量儀，2、測量平臺，3、X軸移動裝置，4、Y軸移動裝置，5、Z軸移動裝置，5.1、殼體，5.2、螺桿，6、第一滑動塊，7、球形凸起，8、球形凹槽，9、螺釘，10、第一驅動手輪，11、第二滑動塊，12、第一開口槽，13、第二驅動手輪，14、第三滑動塊，15、第二開口槽，16、第三驅動手輪，17、第三開口槽。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步說明。

如圖1、圖2所示，本實用新型一種三維表面形貌的測量臺架，包括一測量儀1、一測量平臺2、一X軸移動裝置3以及一Y軸移動裝置4，所述的X軸移動裝置3安裝在測量平臺2上；所述的Y軸移動裝置4安裝在X軸移動裝置3上；所述三維表面形貌的測量臺架還包括一Z軸移動裝置5，所述的Z軸移動裝置5安裝在Y軸移動裝置4上；所述的測量儀1設在Z軸移動裝置5上。

所述的測量儀1球接在Z軸移動裝置5上。

所述Z軸移動裝置5上的第一滑動塊6上設有一球形凸起7，所述的測量儀1上設有一球形凹槽8，所述的球形凸起7球接在球形凹槽8內，即球形凸起7可以在球形凹槽8內轉動；所述的測量儀1上還設有一用于限定球形凸起7動作的螺釘9，調節位置時，松開螺釘；使用時鎖緊即可。

在本實施例中，所述的X軸移動裝置3、Y軸移動裝置4以及Z軸移動裝置5均為滾珠絲杠式移動裝置。