[實用新型]一種芯片燒錄測試裝置

有效

• 申請號: 201120567496.2
• 申請日: 2011-12-30
• 公開（公告）號: CN202693745U
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發明（設計）人: 張臻哲
• 申請（專利權）人: 深圳市隆芯微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產權事務所(普通合伙) 44248
• 代理人: 胡吉科;孫偉

技術領域

本實用新型屬于芯片燒錄測試領域，尤其涉及一種芯片燒錄測試裝置。?

背景技術

目前，現有的芯片燒錄測試裝置一般包括小型燒錄測試機和大型燒錄測試機。在利用小型燒錄測試機燒錄測試芯片的過程中，通常需要人工讓芯片進出燒錄測試裝置。這樣，不僅芯片燒錄測試速度較慢，而且容易出現錯誤操作。而大型自動燒錄測試機一般采用機械手，從而不僅使成本較高，而且體積也過大。?

實用新型內容

為了解決上述技術問題，本實用新型實施例的目的在于提供一種芯片燒錄測試裝置。?

本實用新型實施例是這樣實現的，一種芯片燒錄測試裝置，所述燒錄測試裝置包括：使芯片利用重力向下滑動的傾斜的芯片滑動導軌，按滑動導軌方向依次設置的第一頂針、第一光耦、第二頂針、第二光耦、第三頂針，所述第一頂針、第二頂針、第三頂針分別對應連接有第一電磁鐵、第二電磁鐵、第三電磁鐵，?

在所述第二頂針與第二光耦之間，在芯片滑動導軌兩側分別設置有帶左燒錄測試夾具的左直線滑動導軌以及帶右燒錄測試夾具的右直線滑動導軌，所述左直線滑動導軌安裝在左直線滑動平臺上，所述右直線滑動導軌安裝在右直線滑動平臺上，所述左直線滑動平臺連接有第四電磁鐵，所述右直線滑動導軌連接有第五電磁鐵，并且，所述第四電磁鐵、第五電磁鐵分別與第一復位彈簧、第二復位彈簧相連。

進一步地，所述芯片滑動導軌與水平面的夾角為60～80度。?

在本實用新型中，本芯片燒錄測試裝置通過芯片滑動導軌以及各器件的配合自動完成燒錄測試，從而避免了芯片燒錄測試過程中的人工操作，不僅提高了芯片燒錄測試速度，而且避免出現錯誤操作。相比大型自動燒錄測試機而言，其成本較低，體積較小，結構簡單。?

附圖說明

圖1是本實用新型實施例提供的芯片燒錄測試裝置的結構;?

圖2是本實用新型實施例提供的芯片燒錄測試裝置的側面圖。

具體實施方式

為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。?

參閱圖1、2，其中圖1示出了本實用新型實施例提供的芯片燒錄測試裝置的結構，包括：使芯片利用重力向下滑動的傾斜的芯片滑動導軌（所述滑動導軌為相對水平面為60～80度安裝，如圖2），在芯片滑動導軌的頂端設置有芯片入口10。并且，在芯片滑動導軌上按芯片滑動方向依次設置有第一頂針16、第一光耦17、第二頂針18，第二光耦19、第三頂針20，所述第一頂針16、第二頂針18、第三頂針20分別連接有第一電磁鐵11、第二電磁鐵12、第三電磁鐵13。在所述第二頂針18與第二光耦19之間，在芯片滑動導軌兩側分別設置有帶左燒錄測試夾具28的左直線滑動導軌26，以及帶右燒錄測試夾具19的右直線滑動導軌22。所述左直線滑動導軌28安裝在左直線滑動平臺27上，所述右直線滑動導軌22安裝在右滑動平臺21上。所述左直線滑動平臺27連接有第四電磁鐵14，所述右滑動平臺21連接有第五電磁鐵15。所述第四電磁鐵14、第五電磁鐵15分別連接了第一復位彈簧25、第二復位彈簧24。?

所述第一頂針16電連接有第一電磁鐵11，當所述第一電磁鐵11閉合時，第一頂針16橫檔在芯片滑動導軌中間，使芯片停止滑動，當所述第一電磁鐵11打開時，第一頂針16從滑動導軌中間移開，使芯片可以沿滑動導軌向下滑動。類似地，所述第二頂針18電連接有第二電磁鐵12，當所述第二電磁鐵12閉合時，第二頂針18橫檔在芯片滑動導軌中間，使芯片停止滑動，當所述第二電磁鐵12打開時，第二頂針18從滑動導軌中間移開，使芯片可以沿滑動導軌向下滑動。所述第三頂針20電連接有第三電磁鐵13，當所述第三電磁鐵13閉合時，第三頂針20橫檔在芯片滑動導軌中間，使芯片停止滑動，當所述第三電磁鐵13打開時，第三頂針20從滑動導軌中間移開，使芯片可以沿滑動導軌向下滑動。?