[實用新型]一種集成電路老化篩選試驗裝置

有效

• 申請號: 201120535695.5
• 申請日: 2011-12-20
• 公開（公告）號: CN202404204U
• 公開（公告）日: 2012-08-29
• 發明（設計）人: 孫在利;張亞軍
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七0九研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 武漢金堂專利事務所 42212
• 代理人: 胡清堂

1.一種集成電路老化篩選試驗裝置，包括本體管（1）、對接體（2）和固定件（3），本體管的俯壁面（12）、前、后斜側壁面（14）和底壁面（16）的各相鄰壁面有邊棱連接，其特征在于：各壁面均設置有透氣窗口，壁面圍成的空間是電路容置部（18），容置部兩端由固定件（31、32）固定，對接體（2）的大部分套在本體管的可調節螺孔（126、1636）外端并固定。

2.根據權利要求1所述的集成電路老化篩選試驗裝置，其特征在于：所述的本體管的底壁面（16）是由兩個對稱的底壁小平面（161）、兩個對稱的底壁斜立面（162）、和底壁凸面（163）連接構成。

3.根據權利要求2所述的集成電路老化篩選試驗裝置，其特征在于:所述的底壁凸面（163）上終端固定螺孔（1634）至可調節螺孔（1635），除留螺孔外，兩螺孔之間的底壁凸面是一個空面，是一個長形大透氣窗口（1638），窗口所對應的壁面空間是電路容置部（18）。

4.根據權利要求3所述的集成電路老化篩選試驗裝置，其特征在于:所述的電路容置部（18）的一端是由終端固定螺釘（31）固定，另一端是由手旋螺釘（32）固定。

5.根據權利要求1所述的集成電路老化篩選試驗裝置，其特征在于:所述的對接體（2）的形狀同本體管（1）相同，本體管的外緣尺寸等于對接體的內緣尺寸。

6.根據權利要求5所述的集成電路老化篩選試驗裝置，其特征在于:所述的對接體（2）套在本體管（1）上的固定螺釘（33）的長度等于套入重疊后的俯壁面（12、22）的厚度。

7.根據權利要求6所述的集成電路老化篩選試驗裝置，其特征在于所述對接體（2）的大部分套在本體管可調節手旋螺孔（126、1636）外端，沒套入的小部分是對接插口（25）。

8.根據權利要求7所述的集成電路老化篩選試驗裝置，其特征在于所述對接插口（25），可直接在本體管的可調節螺孔（126、1636）外端的原對接體（2）的套入部位，將四個壁面外擴成對接插口（25）。