[實用新型]用于觸摸屏的觸摸識別電路有效
| 申請號: | 201120458466.8 | 申請日: | 2011-11-17 |
| 公開(公告)號: | CN202331406U | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 趙家陽 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 觸摸屏 觸摸 識別 電路 | ||
技術領域
本實用新型涉及觸摸屏技術領域,尤其涉及一種用于觸摸屏的觸摸識別電路。?
背景技術
最近一段時間,觸摸屏市場非常的火熱。觸摸面板在手機等便攜式產品上的普及率正在飛速增長,而在未來幾年內市場也將對大尺寸觸摸面板出現較大的需求。?
現有技術的觸摸面板有多種類型。按照觸摸功能工作原理劃分,主要包括電感式、電容式和電阻式三種類型。電阻式利用壓力感應進行控制,通過設置兩層導電層,手指觸摸時兩層導電層在觸摸點位置接觸,電阻發生變化,由電阻變化獲得觸摸點位置。電容式利用人體的電流感應,通過設置導電層,并在四個角上引出四個電極,當手指觸摸時,由于人體電場,手指和導電層形成一個耦合電容,四個電極有電流變化,由電流變化獲得觸摸點位置。?
觸摸屏主要有on-cell和in-cell兩種結構。In-cell結構比on-cell結構工藝更簡單(不需要在上玻璃基板兩面成膜),從而更容易控制良率降低成本。另外,由于上玻璃基板外側沒有結構,因此可以薄化上玻璃基板(on-cell結構不可以),從而使厚度更薄。但因為in-cell結構更容易受到來自LCD噪聲的干擾(因為距離LCD比on-cell結構近了很多),因此實現起來更加困難。?
目前已有的in-cell觸摸屏主要有光感式和電容式兩種。?
電容式通過手指對屏的按壓,使電容值發生變化,從而檢測觸摸位置;?
光感式通過手指觸摸時,使外界光對光感TFT照射強度發生變化,?從而檢測觸摸位置。?
現有的in-cell觸摸屏的觸摸識別電路大都使用一個薄膜晶體管輸出觸摸電壓,由于薄膜晶體管可以感應的電壓很小,無法感應微小的觸摸電壓,因此敏感度不高,而且對in-cell觸摸屏的RC延遲要求很高。?
實用新型內容
(一)要解決的技術問題?
本實用新型要解決的技術問題是,針對上述缺陷,如何提供一種高敏感度的用于觸摸屏的觸摸識別電路,從而能夠感應微小的觸摸電壓,提高觸摸屏的操控性能。?
(二)技術方案?
為解決上述技術問題,本實用新型提供了一種用于觸摸屏的觸摸識別電路,包括:NPN型的第二薄膜晶體管、PNP型的第三薄膜晶體管和比較器;其中,?
所述第二薄膜晶體管,與所述比較器相連接,用于向所述比較器提供第一比較電壓;?
所述第三薄膜晶體管,與所述比較器相連接,用于向所述比較器提供第二比較電壓;?
所述比較器分別與所述第二薄膜晶體管和所述第三薄膜晶體管相連接,用于根據所述第二薄膜晶體管提供的第一比較電壓和所述第三薄膜晶體管提供的第二比較電壓確定觸摸動作是否發生。?
其中,所述比較器進一步用于比較所述第一比較電壓和所述第二比較電壓,如果所述第一比較電壓與所述第二比較電壓不相等,則確定有觸摸動作發生,否則,確定為無觸摸動作發生。?
其中,所述用于觸摸屏的觸摸識別電路還包括:可變電容;所述可變電容的一端具有檢測電壓Vscan,且分別與所述第二薄膜晶體管和所述第三薄膜晶體管相連接,所述可變電容的另一端與具有電壓?Vcom的公共電極相連接。?
其中,所述用于觸摸屏的觸摸識別電路還包括電容;所述電容的一端分別與所述可變電容、所述第二薄膜晶體管和所述第三薄膜晶體管相連接,另一端具有檢測電壓Vscan。?
其中,所述用于觸摸屏的觸摸識別電路還包括:第一薄膜晶體管;所述第一薄膜晶體管分別與所述電容、所述可變電容、所述第二薄膜晶體管和所述第三薄膜晶體管相連接。?
其中,所述用于觸摸屏的觸摸識別電路還包括:第四薄膜晶體管和第五薄膜晶體管;所述第四薄膜晶體管連接于所述第二薄膜晶體管和所述比較器之間,用于向所述比較器提供第一復位電壓;所述第五薄膜晶體管連接于所述第三薄膜晶體管和所述比較器之間,用于向所述比較器提供第二復位電壓;其中,所述第一復位電壓與所述第二復位電壓相等。?
其中,所述第一薄膜晶體管具有第一柵極,第一源極和第一漏極,所述第一源極具有第一工作電壓VSS、第一柵極具有復位電壓Vreset,第一漏極分別與第二薄膜晶體管和第三薄膜晶體管相連接。?
其中,所述第二薄膜晶體管具有第二柵極、第二源極和第二漏極,所述第二源極具有第一工作電壓VSS,第二柵極與所述第一薄膜晶體管相連接,所述第二漏極與所述比較器連接。?
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