[實(shí)用新型]紫藍(lán)硅光電二極管有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201120448164.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-05-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN202395007U | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-08-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔峰敏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 傲迪特半導(dǎo)體(南京)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/105 | 分類號(hào): | H01L31/105;H01L31/0352 |
| 代理公司: | 江蘇致邦律師事務(wù)所 32230 | 代理人: | 樊文紅 |
| 地址: | 210034 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 紫藍(lán) 光電二極管 | ||
1.紫藍(lán)硅光電二極管,其特征是,在高電阻率的N型區(qū)熔單晶片的正面周邊設(shè)有環(huán)狀N型Si層,環(huán)狀N型Si層內(nèi)側(cè)設(shè)有P型Si層,在環(huán)狀N型Si層和?P型Si層之間隔著環(huán)形高阻硅層,在P型Si層表面設(shè)有氮化硅膜,環(huán)形高阻硅層表面設(shè)有二氧化硅膜,P型Si層上有小部分氮化硅膜被光刻、腐蝕掉,形成P型Si層裸露區(qū),在P型Si層裸露區(qū)表面貼附有金屬AL作為陽(yáng)極,?硅片的背面積淀金屬Cr或Au膜陰極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫藍(lán)硅光電二極管,其特征是,所述氮化硅膜的厚度為1,130~1,330?。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫藍(lán)硅光電二極管,其特征是,所述N型Si層的厚度為4,200±400??。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫藍(lán)硅光電二極管,其特征是,所述氮化硅膜的表面設(shè)置為凹凸?fàn)睢?/p>
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫藍(lán)硅光電二極管,其特征是,所述金屬AL的厚度為1.8~2.2?。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫藍(lán)硅光電二極管,其特征是,所述單晶片為方形,所述保護(hù)環(huán)的四角為圓弧形。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫藍(lán)硅光電二極管,其特征是,所述高電阻率為1,000-4,000Ω㎝。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于傲迪特半導(dǎo)體(南京)有限公司,未經(jīng)傲迪特半導(dǎo)體(南京)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201120448164.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





