[實(shí)用新型]用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201120409909.4 | 申請日： | 2011-10-25 |
| 公開（公告）號： | CN202284950U | 公開（公告）日： | 2012-06-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 黃明臻;李江鋒;秦樂寧;衛(wèi)建國;鄧?yán)?/a>;姜清蓮;楊豐;謝懷婷 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州賽瑯泰克高技術(shù)陶瓷有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/27 | 分類號： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 32102 | 代理人： | 陸明耀;陳忠輝 |
| 地址： | 215122 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢測 陶瓷 基板孔 偏移 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于：包括一用于定位的支架，所述支架上設(shè)置有一夾具，所述夾具上夾裝有一攝像機(jī)組件，所述攝像機(jī)組件，所述攝像機(jī)組件通過數(shù)據(jù)線連接與計算機(jī)連接，所述計算機(jī)上連接有一顯示器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于：所述攝像機(jī)組件的下方固定有一顯微鏡組件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于：所述攝像機(jī)組件為CCD攝像機(jī)組件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于：所述的裝置設(shè)置有至少2臺支架。
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