[實(shí)用新型]一種改善光器件靈敏度測(cè)試環(huán)境的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201120408458.2 | 申請(qǐng)日: | 2011-10-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202334522U | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳潤亮;潘靜周 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市亞派光電器件有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04B10/08 | 分類號(hào): | H04B10/08;H04B10/24;G02B6/42 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 改善 器件 靈敏度 測(cè)試 環(huán)境 裝置 | ||
1.一種改善光器件靈敏度測(cè)試環(huán)境的裝置,其特征在于:其包括有電信號(hào)處理單元及能針對(duì)不同管線排布方式來布線的管線排布單元,所述的電信號(hào)處理單元包括信號(hào)處理模塊、電處理模塊及電流測(cè)量模塊,所述的電信號(hào)處理單元上預(yù)留有接口;所述的管線排布單元與所述的電信號(hào)處理單元相連。
2.如權(quán)利要求1所述的一種改善光器件靈敏度測(cè)試環(huán)境的裝置,其特征在于:所述的管線排布單元上預(yù)留有接口。
3.如權(quán)利要求1或2所述的一種改善光器件靈敏度測(cè)試環(huán)境的裝置,其特征在于:其還進(jìn)一步包括有能屏蔽干擾信號(hào)的插拔型SMA接頭,所述的管線排布單元與所述的電信號(hào)處理單元通過所述的插拔型SMA接頭相連。?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市亞派光電器件有限公司,未經(jīng)深圳市亞派光電器件有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201120408458.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H04B 傳輸
H04B10-00 利用微粒輻射束、或無線電波以外的電磁波,例如光、紅外線的傳輸系統(tǒng)
H04B10-02 .零部件
H04B10-22 .兩個(gè)可相對(duì)移動(dòng)的站之間的傳輸
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
專利文獻(xiàn)下載
說明:
1、專利原文基于中國國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專利說明書;
2、支持發(fā)明專利 、實(shí)用新型專利、外觀設(shè)計(jì)專利(升級(jí)中);
3、專利數(shù)據(jù)每周兩次同步更新,支持Adobe PDF格式;
4、內(nèi)容包括專利技術(shù)的結(jié)構(gòu)示意圖、流程工藝圖或技術(shù)構(gòu)造圖;
5、已全新升級(jí)為極速版,下載速度顯著提升!歡迎使用!





