[實用新型]液晶面板檢測單元和檢測裝置

有效

• 申請號: 201120357450.8
• 申請日: 2011-09-22
• 公開（公告）號: CN202210197U
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 馬懿超
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

技術領域

本實用新型涉及液晶面板技術領域，尤其是一種液晶面板檢測單元和檢測裝置。

背景技術

在液晶面板的排布設計中，液晶顯示屏與屏之間通常有廢材位置設計，即使部分“零切割”產品，由于仍需要切割出陣列基板的電極邊，因此在彩膜基板上還存在廢材。

在廢材切割的實際生產中，基于切割壓力、裂片效果、不良情況等各個因素，會發生廢材無法完全脫落或廢材破碎等情況，這些情況統稱為廢材殘留。當廢材殘留的液晶屏進入下游工序，殘留的廢材可能造成屏破碎等不良后果，影響合格率。因此，在廢材切割完成后都會有廢材殘留的檢測單元。

目前，主流切割機中常用的檢測單元稱為檢測針(Pin)，其檢測原理是柱狀的檢測針在移動時通過傳感器感應阻力來檢測廢材是否有殘余，但檢測針在實際生產中存在一些問題包括：1、檢測針只能檢測陣列基板的廢材殘留，不能對彩膜基板電極邊的廢材殘留起到檢測作用；2、檢測針和液晶顯示屏只進行點接觸，因此檢測精度不高，由于檢測區域有限制，在廢材斷裂的情況下檢出能力不足。

實用新型內容

(一)要解決的技術問題

本實用新型要解決的技術問題是，針對上述問題，如何提供一種既能檢測陣列基板的廢材殘留又能檢測彩膜基板電極邊的廢材殘留且檢測區域不受限制的液晶面板檢測單元和檢測裝置。

(二)技術方案

為解決上述技術問題，本實用新型提供了一種液晶面板檢測單元，包括：豎直放置的陣列基板檢測條和水平放置的彩膜基板檢測條；其中：所述彩膜基板檢測條的下表面與所述陣列基板檢測條的上端固定連接。

其中，所述的液晶面板檢測單元還包括：調節閥；所述彩膜基板檢測條進一步包括沿其長度方向設置的調節槽，所述調節閥通過所述調節槽與所述陣列基板檢測條的上端固定連接，并在所述彩膜基板檢測條的長度方向上移動。

其中，所述彩膜基板檢測條還包括：沿垂直于其長度方向設置的一條或多條刻度線。

其中，所述彩膜基板檢測條與所述陣列基板檢測條的寬度相同且均為50-100毫米。

其中，所述彩膜基板檢測條的厚度與所述陣列基板檢測條的厚度均大于等于10毫米。

本實用新型還包括一種液晶面板檢測裝置，包括：至少一根液晶面板檢測條，所述至少一根液晶面板檢測條包括同方向并排布置的至少兩個上述任一項所述的液晶面板檢測單元。

其中，所述至少一根液晶面板檢測條進一步包括：第一檢測單元連接架，位于所述至少兩個液晶面板檢測單元的彩膜基板檢測條的上方并分別與所述至少兩個液晶面板檢測單元的彩膜基板檢測條的上表面相連接。

其中，所述至少一根液晶面板檢測條進一步包括：第二檢測單元連接架，位于所述至少兩個液晶面板檢測單元的陣列基板檢測條的下方并分別與所述至少兩個液晶面板檢測單元的陣列基板檢測條的下端相連接。

其中，所述液晶面板檢測條為四根，其中兩根所述液晶面板檢測條相互平行，并與其余兩根所述液晶面板檢測條相垂直。

其中，所述至少一根液晶面板檢測條中液晶面板檢測單元的間距大于所述彩膜基板檢測條的寬度、所述陣列基板檢測條的寬度和所述彩膜基板檢測條的長度的最大值。

(三)有益效果

本實用新型公開了一種液晶面板檢測單元和檢測裝置，通過陣列基板檢測條和彩膜基板檢測條分別檢測電極邊陣列基板和彩膜基板的廢材殘留；且可以通過調節閥調整陣列基板檢測條的位置，并用刻度線來表示位置，可對應電極邊寬度不同的產品檢測；通過增大陣列基板檢測條和彩膜基板檢測條的寬度，可增加檢測面積。解決了原有檢測針只能檢測陣列基板，不能檢測彩膜基板廢材殘留的問題，并達到了增加檢測面積的效果。

附圖說明

圖1是本實用新型實施例所述的液晶面板檢測單元的結構示意圖；

圖2是本實用新型實施例所述的液晶面板檢測單元檢測無廢材殘留液晶面板的示意圖；

圖3是本實用新型實施例所述的液晶面板檢測單元檢測廢材殘留液晶面板的示意圖；

圖4是本實用新型實施例所述的液晶面板檢測裝置的第一檢測單元連接架的結構示意圖；

圖5是本實用新型實施例所述的液晶面板檢測裝置的第二檢測單元連接架的結構示意圖。

其中，1：陣列基板檢測條；2：彩膜基板檢測條；3：調節閥；4：調節槽；5：刻度線；6：彩膜基板；7：陣列基板；8：廢材殘留；9：第一檢測單元連接架；10：第二檢測單元連接架。

具體實施方式