[實用新型]一種光度計的可旋轉分度樣品架有效
| 申請號: | 201120343521.9 | 申請日: | 2011-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN202256144U | 公開(公告)日: | 2012-05-30 |
| 發明(設計)人: | 劉鳴 | 申請(專利權)人: | 上海菁華科技儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司: | 上海麥其知識產權代理事務所(普通合伙) 31257 | 代理人: | 董紅曼 |
| 地址: | 200041 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光度計 旋轉 分度 樣品 | ||
技術領域
???????本實用新型涉及光度計中與樣品測量相關的部件,尤其是涉及一種光度計的可旋轉分度樣品架。
背景技術
傳統光度計與樣品測量相關的部件通常被設計成固定形式,即樣品架固定且與測量光路形成固定角度。這些條件限制了部分需要在特殊條件下才能準確檢測的樣品的測試。
本實用新型克服了現有技術不能測量特殊條件樣品的局限性,提出一種新的分光光度計的可旋轉樣品架,可用于測試特定要求的部分樣品,比如那些要求在與光路呈一定角度條件下方可準確測試的部分樣品。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種使被測樣品與光路形成一定夾角的固體樣品架部件。該固體樣品架部件可通過在水平方向旋轉被測樣品測定部分需要與光路呈一定角度方可準確測試的樣品。
本實用新型提出一種光度計的可旋轉分度樣品架,其特征在于,包括底座、調節旋鈕、阻尼傳動軸、中心轉軸、刻度盤、樣品架底板、樣品夾持板;所述刻度盤設置在所述底座上方,所述中心轉軸設置在所述刻度盤和所述底座之間,與所述刻度盤及底座同軸設置;所述底座與刻度盤之間設置有所述調節旋鈕,所述調節旋鈕上設置有所述阻尼傳動軸,所述阻尼傳動軸與所述刻度盤的底部接觸,所述樣品架底板設置在所述刻度盤上,所述樣品夾持板設置在所述樣品架底板上。
其中,所述底座為無蓋的圓柱形結構,側壁上設有一個通孔,所述底座的上表面設有刻度線。
其中,所述調節旋鈕包括旋鈕與旋桿,所述旋桿與所述旋鈕的同軸設置;所述旋桿插入所述通孔內。
其中,所述阻尼傳動軸設置在所述旋桿上。
其中,所述刻度盤的上表面設有角度值,所述刻度盤可繞所述中心轉軸旋轉。
本實用新型由底座、分度盤、中心轉軸、橡膠阻尼傳動結構及上部樣品夾持結構組成。該部件由調節旋鈕上設置的阻尼傳動軸帶動刻度盤轉動,刻度盤斜面上角度值對準底座斜面刻度線即可讀出角度值,角度值精度1°。樣品架近光源平面位于刻度盤中心軸線上,可保證聚焦準確。
附圖說明
圖1為本實用新型光度計可旋轉分度樣品架的剖視圖。
圖2為本實用新型光度計可旋轉分度樣品架的俯視圖。
圖3為本實用新型光度計可旋轉分度樣品架中調節旋鈕的示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例對本實用新型的具體實施方式做進一步詳細的說明,但并不以此限制本實用新型的保護范圍。
如圖1~3所示,1-底座,2-調節旋鈕,3-阻尼傳動軸,4-中心轉軸,5-刻度盤,6-樣品架底板,7-樣品夾持板,11-通孔,12-刻度線,21-旋鈕,22-旋桿,51-角度值。
本實施例的一種光度計可旋轉分度樣品架,包括底座1,調節旋鈕2,阻尼傳動軸3,中心轉軸4,刻度盤5,樣品架底板6,樣品夾持板7。
底座1為無蓋的圓柱形結構,側壁上設有一個通孔11,底座1的上表面為一斜面,在斜面上刻有刻度線12。刻度盤5設置在底座1上方,刻度盤5的邊緣下部與底座1的邊緣上部接觸,即刻度盤5擱置在底座1的上方。中心轉軸4的兩端分別連接底座1的中心與刻度盤5的中心。調節旋鈕2由旋鈕21與旋桿22組成,旋桿22穿過通孔11將調節旋鈕2設置在底盤1與刻度盤5之間,調節旋鈕2的旋桿22上設置有阻尼傳動軸3。本實施例中采用橡膠材質的阻尼傳動軸3與刻度盤5的底部接觸,刻度盤5可繞中心轉軸4轉動。刻度盤5的上表面為一斜面,在斜面上刻有角度值。樣品架底板6設置在刻度盤5上,樣品夾持板7設置在樣品架底板6上,轉動調節旋鈕2,帶動其上的阻尼傳動軸3,即可帶動刻度盤5、樣品架底板6、樣品夾持板7與其一起旋轉。
在使用本實施例的光度計可旋轉分度樣品架時,可在樣品夾持板7上固定各種樣品,轉動調節旋鈕2確保光路投射到的樣品平面穿過刻度盤5的中心軸,此時刻度盤5的斜面上的角度值51對準底座1的斜面上的刻度線12即可讀出角度值。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例,并非用來限定本實用新型的實施范圍。任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本實用新型的精神和范圍內,當可作各種變動與潤飾,本實用新型保護范圍應以權利要求書所界定的保護范圍為準。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海菁華科技儀器有限公司,未經上海菁華科技儀器有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201120343521.9/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:自燃溫度測定儀
- 下一篇:粉末樣品光譜分析用流通池及分析系統





