[實用新型]一種PCB板真空檢測治具

有效

• 申請號: 201120299551.4
• 申請日: 2011-08-17
• 公開（公告）號: CN202221462U
• 公開（公告）日: 2012-05-16
• 發明（設計）人: 呂慎華
• 申請（專利權）人: 昆山鴻漢電子有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R1/073
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種檢測治具，特別涉及一種PCB板真空檢測治具。

背景技術

電子線路集成板(PCB板)在生產過程中需要經歷很多的環節，每一環節都需要有相應的測試儀器來檢測產品的好壞。治具是一個提供PCB板測試的平臺，利用探針將待測PCB板上的測點與測試機中的對應點導通，通過調用測試機中對應的程序來實現最終的測試。隨著PCB板功能的增強，測點越來越多，在測試機未進行更換的情況下，現行的短線治具無法對測點較多的PCB板進行量測。

如圖1所示的短線治具，包括鋁框12、下載板14、下針板15、下針板加強板16、探針17、P-pin19及連接線，下載板14與下針板15之間的邊緣處設置有海綿墊11并在下載板14、下針板15及海綿墊11之間形成空腔，下針板加強板16與下針板15連接，探針17依次穿過并固定于下針板加強板16、下針板15及下載板14，P-pin19固定在下針板加強板16上并與探針17平行，探針17與P-pin19之間連接有短連接線18，鋁框12的一端與下針板15連接，另一端連接有蜂巢板20，蜂巢板20上開設有用于容納P-pin?19的呈漏斗型的凹槽，鋁框12內開設有與空腔貫通的真空抽氣孔13。該短線治具是利用探針17把PCB板上的測試點連接到治具的P-pin19上，再由P-pin19與測試機Interface上的min?pin接觸導通進行測試。

該短線治具的優點是探針17和P-pin19之間的繞線可以做到盡量短，這樣在測試的過程中對測試造成的干擾就會比較小。但是，短線治具也存在一些缺陷，由于治具的探針17和P-pin?19分布在同一片針板上面，探針17的分布就會影響到P-pin?19的選擇，也就容易造成機種上的很多資源不能得到合理利用。在早期，由于PCB板的測試點不多，且分布比較分散，對整個治具的選點上來說，基本上不會存在太多的干涉和資源不足。但是，現在隨著PCB板的復雜程度越來越高，對應測試的網絡數也就越來越多，在PCB板上面layout的測試點也越來越多，且分布也越來越密，在治具的制作中，就出現了測試點和P-pin?19之間存在大量的干涉，同時也造成了PCB板測試點很多的情況下，在選點的時候出現資源不夠的問題，導致PCB板上的一些測試項目不能完全測試，這也違背了做治具測試PCB板的目的。

實用新型內容

為解決上述技術問題，本實用新型提供了一種PCB板真空檢測治具，以避免探針與P-pin之間相互干涉而影響測試點的正常測試。

為達到上述目的，本實用新型的技術方案如下：

一種PCB板真空檢測治具，包括鋁框、下載板、下針板、下針板加強板、探針及連接線，所述下載板與所述下針板之間的邊緣處設置有海綿墊并在所述下載板、下針板及海綿墊之間形成空腔，所述下針板加強板與所述下針板連接，所述探針依次穿過并固定于所述下針板加強板、下針板及下載板，所述鋁框的一端與所述下針板連接，所述鋁框內開設有與所述空腔貫通的真空抽氣孔，所述鋁框一端通過鉸鏈與所述下針板連接，所述鋁框的另一端設置有與其垂直的界面板，所述界面板與所述下針板相對應，所述界面板上設置有界面針，所述界面針通過長連接線與所述探針連通。

優選的，所述下針板上設置有與所述空腔貫通的氣孔A。

優選的，所述鋁框上設置有與所述真空抽氣孔貫通的氣孔B。

優選的，所述氣孔A與所述氣孔B通過真空管連通。

通過上述技術方案，本實用新型提供的真空檢測治具，其相比現有的短線真空治具具有如下優點：

①由于界面板上的界面針與測試機Interface上的min?pin數量一樣多，可充分利用測試機的資源；

②探針與界面針分別固定在下針板和界面板上，它們不會有相互干涉的情況發生，探針的數量可達到與界面針的數量一致，也就是說，待測點的數量可與測試機Interface上的min?pin數量一樣多，解決了PCB板選點資源不夠的問題。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹。

圖1為現有技術的一種短線治具的局部結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例所公開的一種PCB板真空檢測治具閉合狀態下的局部結構示意圖；

圖3為圖2中所示的治具掀開狀態下的局部結構示意圖；

圖4為圖2中探針的放大示意圖。

圖中：