[實用新型]制作均勻腐蝕試驗用樣品支架的折具

有效

• 申請號: 201120218247.2
• 申請日: 2011-06-24
• 公開（公告）號: CN202141669U
• 公開（公告）日: 2012-02-08
• 發明（設計）人: 劉飛華;劉曉軍;李巖;方可偉;李成濤
• 申請（專利權）人: 蘇州熱工研究院有限公司;中國廣東核電集團有限公司
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛

1.一種制作均勻腐蝕試驗用樣品支架的折具，所述的均勻腐蝕試驗用樣品支架呈“W”狀，其特征在于：該折具包括通過一個轉軸相鉸接的第一桿體和第二桿體，所述的第一桿體和所述的第二桿體中的一者上設置有偶數個凹槽、另一者上設置有與所述的凹槽的數目相同的凸棱，所述的凸棱的寬度小于所述的凹槽的寬度，當所述的第一桿體靠近所述的第二桿體時，這些所述的凸棱一一對應收容在對應的凹槽中，所述的凸棱與所述的凹槽之間形成所述的樣品支架的間隙。

2.根據權利要求1所述的制作均勻腐蝕試驗用樣品支架的折具，其特征在于：所述的第一桿體上設置有第一凸塊，這些所述的凸棱設置在所述的第一凸塊上，所述的第二桿體上設置有第二凸塊，這些所述的凹槽設置在所述的第二凸塊上。

3.根據權利要求2所述的制作均勻腐蝕試驗用樣品支架的折具，其特征在于：所述的第一凸塊上設置有兩個所述的凸棱，所述的第二凸塊上對應設置有兩個所述的凹槽。

4.根據權利要求3所述的制作均勻腐蝕試驗用樣品支架的折具，其特征在于：兩個所述的凸棱的橫截面的邊緣線呈“W”型，兩個所述的凹槽的橫截面的邊緣線呈“W”型。

5.根據權利要求1至4中任意一項所述的制作均勻腐蝕試驗用樣品支架的折具，其特征在于：各個所述的凸棱的棱邊均為倒圓角。