[實用新型]顆粒多晶硅物理法除雜裝置

有效

• 申請號: 201120206557.2
• 申請日: 2011-06-20
• 公開（公告）號: CN202089782U
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發明（設計）人: 趙可武;李淑麗;王彥利
• 申請（專利權）人: 西安隆基硅材料股份有限公司;寧夏隆基硅材料有限公司;銀川隆基硅材料有限公司;無錫隆基硅材料有限公司
• 主分類號: C01B33/037
• 分類號: C01B33/037
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 羅笛

1.一種顆粒多晶硅物理法除雜裝置，包括顆粒多晶硅篩分區域、除塵區域、物料傳送區域和自動封裝區域，其特征在于：

所述的篩分區域設置有篩分機(1)、漏斗(3)、物料平臺(4)、航吊(5)和支撐架(2)；漏斗(3)固定于篩分機(1)上方，物料平臺(4)固定于漏斗(3)上方，航吊(5)滑動安裝于支撐架(2)頂部，

所述的除塵區域設置有除塵裝置，除塵裝置通過軟管與篩分機(1)頂部連通，

所述的物料傳送區域設置有傳送帶和密封盒，

所述的自動封裝區域設置有配套的集料斗、臺秤和封裝機。

2.按照權利要求1所述的顆粒多晶硅物理法除雜裝置，其特征在于：所述的篩分機(1)內部裝有雙層振動篩。

3.按照權利要求1所述的顆粒多晶硅物理法除雜裝置，其特征在于：所述的篩分機(1)內部與物料接觸的表面均有非金屬耐磨高純材質涂層。

4.按照權利要求1所述的顆粒多晶硅物理法除雜裝置，其特征在于：所述的除塵區域內部與物料接觸表面均有非金屬耐磨高純材質涂層。

5.按照權利要求1所述的顆粒多晶硅物理法除雜裝置，其特征在于：所述的物料傳送區域設置有兩條并行的傳送帶。