[實用新型]一種入射功率連續可調的輻照樣品倍頻實驗裝置有效
| 申請號: | 201120197163.5 | 申請日: | 2011-06-02 |
| 公開(公告)號: | CN202141675U | 公開(公告)日: | 2012-02-08 |
| 發明(設計)人: | 石建平;唐義甲;詹伶俐;劉洪建 | 申請(專利權)人: | 安徽師范大學 |
| 主分類號: | G01N21/63 | 分類號: | G01N21/63 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 24100*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 入射 功率 連續 可調 輻照 樣品 倍頻 實驗 裝置 | ||
1.一種入射功率連續可調的輻照樣品倍頻實驗裝置,其特征在于:由激光器(1),光闌(2),分束片(3),第一濾光片(4),第一聚束鏡(5),第二濾光片(6),第二聚束鏡(7),第一光功率計(8),樣品臺(9),樣品臺支架(10),輻照樣品(11)以及第二光功率計(12)組成;輻照樣品(11)置于樣品臺(9)上,樣品臺(9)通過樣品支架(10)支撐;激光器(1)發出的基頻光經光闌(2)調節后,被分束片(3)分成兩束,小部分反射進入第二光功率計(12),大部分經第一濾光片(4)和聚束鏡(5)后入射到輻照樣品(11)上,激發出倍頻波;從樣品(11)中出來的透射光既有基頻成分,也有倍頻成分,所述透射光經第二濾光片(6)濾掉基頻波后被第二聚束鏡(7)聚焦,由第二光功率計(12)探測。
2.根據權利要求1所述的一種入射功率連續可調的輻照樣品倍頻實驗裝置,其特征在于:所述的分束片(3)為反射率小于5%、透射率大于95%的分束片。
3.根據權利要求1所述的一種入射功率連續可調的輻照樣品倍頻實驗裝置,其特征在于:所述光闌(2)為可調光闌,孔徑在直徑1.0mm到10mm之間連續可調,調節精度0.05mm。
4.根據權利要求1所述的一種入射功率連續可調的輻照樣品倍頻實驗裝置,其特征在于:所述的樣品臺支架(10)為四維調節架。?
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于安徽師范大學,未經安徽師范大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201120197163.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





