[實用新型]用于耐紫外測試裝置中的試樣架有效
| 申請號： | 201120135221.1 | 申請日： | 2011-04-29 |
| 公開（公告）號： | CN202101922U | 公開（公告）日： | 2012-01-04 |
| 發明（設計）人： | 龔曉陽 | 申請（專利權）人： | 上海天祥質量技術服務有限公司 |
| 主分類號： | G01N17/00 | 分類號： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 上海金盛協力知識產權代理有限公司 31242 | 代理人： | 羅大忱 |
| 地址： | 200122 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 紫外 測試 裝置 中的 試樣 | ||
【權利要求書】：
1.用于耐紫外測試裝置中的試樣架，其特征在于，包括：
兩側設有折邊(101)的前端面(1)；
開設在前端面(1)上的通孔(2)；
嵌在前端面(1)的兩側折邊(101)內的后端面(3)；
撐在兩側折邊內的支撐條(4)。
2.根據權利要求1所述的用于耐紫外測試裝置中的試樣架，其特征在于，所述的支撐條(4)為N型，N型的支撐條的兩條豎直端，分別撐在前端面(1)的兩側的折邊(101)內。
3.根據權利要求1或2所述的用于耐紫外測試裝置中的試樣架，其特征在于，所述的通孔(2)為圓形、橢圓形、三角形或矩形。
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