[實(shí)用新型]輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201120089114.X | 申請(qǐng)日: | 2011-03-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201983739U | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-09-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 連美麗;田倬于;魯翔;邢祺;李建;程明朗 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中集車(chē)輛(集團(tuán))有限公司;駐馬店中集華駿鑄造有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B5/14 | 分類號(hào): | G01B5/14 |
| 代理公司: | 深圳市隆天聯(lián)鼎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44232 | 代理人: | 劉抗美;周惠來(lái) |
| 地址: | 518000 *** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 輪轂 軸承 間距 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,包括一本體,由所述本體呈輻射狀凸伸出一對(duì)通端卡爪和一對(duì)止端卡爪,兩通端卡爪之間的間隔為輪轂軸承臺(tái)間距的上限設(shè)定距離,兩止端卡爪之間的間隔為輪轂軸承臺(tái)間距的下限設(shè)定距離。
2.如權(quán)利要求1所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,所述檢測(cè)裝置還包括一體成型或分體設(shè)置在所述本體一端的手柄。
3.如權(quán)利要求2所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,所述手柄的一端設(shè)置有卡槽,所述本體一端位于卡槽內(nèi)并通過(guò)緊固件與卡槽槽壁固定。
4.如權(quán)利要求1所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,兩通端卡爪和兩止端卡爪在同一平面上,且,兩通端卡爪和兩止端卡爪分別位于所述本體的兩側(cè)。
5.如權(quán)利要求4所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,兩通端卡爪、兩止端卡爪以及本體一體成型。
6.如權(quán)利要求1所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,兩通端卡爪為:通端第一卡爪和通端第二卡爪,兩止端卡爪為:止端第一卡爪和止端第二卡爪;所述通端第一卡爪和所述止端第一卡爪位于所述本體的一端,所述通端第二卡爪和所述止端第二卡爪位于所述本體的另一端;所述通端第一卡爪伸出所述本體的長(zhǎng)度大于所述通端第二卡爪伸出所述本體的長(zhǎng)度,所述止端第一卡爪伸出所述本體的長(zhǎng)度大于所述止端第二卡爪伸出所述本體的長(zhǎng)度。
7.如權(quán)利要求6所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,所述通端第一卡爪的最外端與所述止端第一卡爪的最外端之間的距離為第一距離,所述通端第二卡爪的最外端與所述止端第二卡爪的最外端之間的距離為第二距離,所述第一距離與所述第二距離之差等于待測(cè)輪轂內(nèi)、外軸承臺(tái)的小孔的孔徑之差。
8.如權(quán)利要求6所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,所述通端第一卡爪和所述通端第二卡爪各自相對(duì)一側(cè)分別具有一通端第一工作面和一通端第二工作面;所述止端第一卡爪和所述止端第二卡爪各自相對(duì)的一側(cè)分別具有一止端第一工作面和一止端第二工作面。
9.如權(quán)利要求8所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,所述通端第一工作面與所述止端第一工作面在同一平面內(nèi),通端第二工作面與止端第二工作面不在一個(gè)平面內(nèi),或者,所述通端第二工作面與所述止端第二工作面在同一平面內(nèi),通端第一工作面與止端第一工作面不在一個(gè)平面內(nèi)。
10.如權(quán)利要求8所述的輪轂軸承臺(tái)間距檢測(cè)裝置,其特征在于,所述通端第一工作面、通端第二工作面、止端第一工作面以及止端第二工作面各自靠近所述本體的位置分別設(shè)置有一弧形凹槽。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中集車(chē)輛(集團(tuán))有限公司;駐馬店中集華駿鑄造有限公司,未經(jīng)中集車(chē)輛(集團(tuán))有限公司;駐馬店中集華駿鑄造有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201120089114.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





