[實(shí)用新型]一種適合于網(wǎng)絡(luò)分析的浮置式測(cè)量系統(tǒng)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201120053329.6 | 申請(qǐng)日: | 2011-03-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202083746U | 公開(公告)日: | 2011-12-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙孔新 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 趙孔新 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R23/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 130012 吉林*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 適合于 網(wǎng)絡(luò)分析 浮置式 測(cè)量 系統(tǒng) | ||
所屬技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電子測(cè)量?jī)x器領(lǐng)域,具體涉及網(wǎng)絡(luò)分析儀和頻率特性分析儀器。?
背景技術(shù)
本實(shí)用新型所述的一種適合于網(wǎng)絡(luò)分析的浮置式測(cè)量系統(tǒng),廣泛應(yīng)用在頻率特性分析儀以及網(wǎng)絡(luò)分析儀等電子測(cè)量?jī)x器的科研、生產(chǎn)和教學(xué)領(lǐng)域,用于測(cè)試電子線路、低壓電氣網(wǎng)絡(luò)、自動(dòng)控制系統(tǒng)、傳感器和電子元器件的頻率特性及多種網(wǎng)絡(luò)參數(shù),克服了現(xiàn)有一些產(chǎn)品被測(cè)試網(wǎng)絡(luò)接入時(shí)考慮接入電位問題的弊端。是一種既能測(cè)試輸入輸出具有公共接地參考電位的被測(cè)網(wǎng)絡(luò)又能測(cè)量浮置式雙口輸入輸出網(wǎng)絡(luò)頻率特性的電子式測(cè)量?jī)x器。?
本實(shí)用新型所述的網(wǎng)絡(luò)分析儀器浮置的輸入輸出電路,不需要特別考慮輸入信號(hào)電平和被測(cè)對(duì)象的接地電位,能夠在短時(shí)間內(nèi)高精度測(cè)量動(dòng)態(tài)變化著的頻率響應(yīng)特性,操作簡(jiǎn)單。?
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型以圖1所示測(cè)量系統(tǒng)所特有的結(jié)構(gòu)的形式,公開了一種適合于網(wǎng)絡(luò)分析的浮置式測(cè)量系統(tǒng)。圖1所述的一種適合于網(wǎng)絡(luò)分析的浮置式測(cè)量系統(tǒng)包括MCU主控單元模塊(101)、激勵(lì)信號(hào)源模塊(102)、信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊(110)、總線隔離器0(114)、總線隔離器1(115)、模擬信號(hào)隔離器(106)和被測(cè)網(wǎng)絡(luò)(105)模塊。MCU主控模塊通過總線隔離器0、總線隔離器1分別于激勵(lì)信號(hào)源模塊、信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊連接;激勵(lì)信號(hào)源模塊的輸出與被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸入相連接;被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸出與信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊的輸入相連接;模擬信號(hào)隔離器的輸入與激勵(lì)信號(hào)源模塊的輸出相連接,模擬信號(hào)隔離器的輸出與信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換主控模塊的輸入相連接。?
所述的MCU(微控制器)主控單元模塊(101)包括微處理器系統(tǒng)、程序存儲(chǔ)單元、鍵盤輸入單元、打印單元和顯示單元,還可以包括多種通信接口單元等。MCU主控模塊、激勵(lì)信號(hào)源模塊、信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊被總線隔離器0、總線隔離器1和模擬信號(hào)隔離器分割成具有不同參考電位的浮置式模塊;被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸入輸出回路可以具有獨(dú)立的參考電位;被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸入輸出也可以具有相同的參考電位。被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸入信號(hào)經(jīng)模擬信號(hào)隔離器之后,連同被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸出信號(hào)一起作為信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊的輸入;被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的激勵(lì)信號(hào)和響應(yīng)信號(hào)應(yīng)該被兩個(gè)相同的A/D轉(zhuǎn)換器以高于被測(cè)網(wǎng)絡(luò)帶寬2倍以上的采樣率同步采樣。?
所述的激勵(lì)信號(hào)源模塊(102)可以產(chǎn)生被測(cè)網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)生所需的多種激勵(lì)信號(hào),例如正弦波、正弦掃頻信號(hào)或其它調(diào)頻、調(diào)幅、調(diào)相信號(hào)等。?
所述的被測(cè)網(wǎng)絡(luò)(105)可以是各種電子式有源或無源網(wǎng)絡(luò),其輸入與輸出可以具有公共接電位,也可以是任何輸入輸出浮置式的雙口網(wǎng)絡(luò)。?
所述的模擬信號(hào)隔離器(106)可以是光介質(zhì)的電氣隔離器,亦可以是磁介質(zhì)的電氣隔離器,是用來隔離被測(cè)網(wǎng)絡(luò)(105)的輸入激勵(lì)X1(104)和輸出響應(yīng)信號(hào)X2(107)以及X1經(jīng)變換產(chǎn)生的信號(hào)X3(108),但并不影響被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸入輸出具有公共參考電位的應(yīng)用場(chǎng)合。?
所述的信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊(110)可以包括模擬信號(hào)檢測(cè)電路、衰減和放大電路等,也包括將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)的器件(A/D轉(zhuǎn)換器或ADC)及其與之相關(guān)的器件;對(duì)于多路模擬輸入信號(hào),可能還需要考慮兩路信號(hào)的同步采樣而設(shè)置的同步采集電路。?
所述的總線隔離器0(114)、總線隔離器1(115)用來將MCU主控模塊(101)和系統(tǒng)供電電源隔離起來。使激勵(lì)信號(hào)源模塊(102)、信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊(110)與MCU主控模塊(101)具有不同的參考電位,即分別是參考電位互相浮置式的獨(dú)立參考電位模塊。?
所述的MCU主控模塊(101)通過總線隔離器0(114)與激勵(lì)信號(hào)源模塊(102)相連接,向激勵(lì)信號(hào)源模塊(102)發(fā)送控制參數(shù)、啟停命令等控制信號(hào)。?
所述的MCU主控模塊(101)通過總線隔離器1(115)與信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊(110)相連接,用來讀取由信號(hào)檢測(cè)與轉(zhuǎn)換控制模塊(110)獲取的采樣數(shù)據(jù),由MCU主控模塊(101)進(jìn)行運(yùn)算處理。?
所述的激勵(lì)信號(hào)源模塊(102)的輸出與被測(cè)網(wǎng)絡(luò)(105)的輸入端相連接,為被測(cè)網(wǎng)絡(luò)提供參考電位為GND1(103)的激勵(lì)信號(hào)X1(104);激勵(lì)信號(hào)源模塊(102)的輸出又與模擬信號(hào)隔離器(106)的輸入連接;模擬信號(hào)隔離器(106)的輸出信號(hào)X3(108)是輸入信號(hào)X1經(jīng)過模擬信號(hào)隔離器(106)變換之后、且與X1具有不同參考電位的模擬信號(hào)。?
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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