[實用新型]利用輔助運放測試運放類IC參數的電路

無效

• 申請號: 201120009030.0
• 申請日: 2011-01-13
• 公開（公告）號: CN202025069U
• 公開（公告）日: 2011-11-02
• 發明（設計）人: 林康生;陳品霞
• 申請（專利權）人: 博嘉圣（福州）微電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司 35100
• 代理人: 蔡學俊

技術領域

本實用新型涉及利用輔助運放測試運放類IC參數的電路。

背景技術

目前，用于測試運放類IC參數需要使用專門的測試設備，這些設備成本較高，同時電路結構復雜，當設備出現故障時，又很難維修，給測試運放類IC的工作增加了成本。

發明內容

有鑒于此，本實用新型的目的是提供一種利用輔助運放測試運放類IC參數的電路，該電路結構簡單，易于實現，能夠方便地測試運算放大器參數。

利用輔助運放測試運放類IC參數的電路，包括待測集成運放A1、輔助放大器A2、開關S1、S2、S3、S4、交流電源VI1、VI2、電阻R1、R2、R3、R4、R10、R11、RL、電容C2，其特征在于：電阻R1一端接交流電源VI1，另一端串聯電阻R11和電阻R3，R11另一端接待測運放A1的反相端，電阻R2一端接交流電源VI1，另一端串聯電阻R10和電阻R4，R11另一端接待測運放A1的同相端，電源VI1另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接雙路開關S4的一條支路的一端，開關S4另一端接輔助運放的輸出端，A1輸出端接雙路開關S4的另一支路的一端，開關S4另一接A2的反向輸入端，A1輸出接開關S3的一端，S3另一端串聯電阻RL后接地，輔助運放A2的同相端接交流電源VI2，VI2另一端接地，開關S1、S2分別并聯在電阻R11、R10兩端，電阻R3兩端并聯補償電容C2。

輔助運放A1的AO2≥80dB，VICM2應大于A1的輸出電壓擺幅(至少大±10V)，VOM2≥10V。R1、R2取50Ω，R3、R4取50kΩ，R10、R11取10kΩ。

本實用新型電路簡單、使用方便、易于實現，能夠以最小的成本實現運放類IC參數的測試。

附圖說明

圖1是本實用新型實施例的電路圖。

具體實施方式???

???利用輔助運放測試運放類IC參數的電路，如圖1所示，包括待測集成運放A1、輔助放大器A2、開關S1、S2、S3、S4、交流電源VI1、VI2、電阻R1、R2、R3、R4、R10、R11、RL、電容C2，其特征在于：電阻R1一端接交流電源VI1，另一端串聯電阻R11和電阻R3，R11另一端接待測運放A1的反相端，電阻R2一端接交流電源VI1，另一端串聯電阻R10和電阻R4，R11另一端接待測運放A1的同相端，電源VI1另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接雙路開關S4的一條支路的一端，開關S4另一端接輔助運放的輸出端，A1輸出端接雙路開關S4的另一支路的一端，開關S4另一接A2的反向輸入端，A1輸出接開關S3的一端，S3另一端串聯電阻RL后接地，輔助運放A2的同相端接交流電源VI2，VI2另一端接地，開關S1、S2分別并聯在電阻R11、R10兩端，電阻R3兩端并聯補償電容C2。

?輔助運放A1的AO2≥80dB，VICM2應大于A1的輸出電壓擺幅(至少大±10V)，VOM2≥10V。R1、R2取50Ω，R3、R4取50kΩ，R10、R11取10kΩ。

A1、A2接成閉環系統，為了保證閉環能穩定工作，補償成單極點頻率特性。

以下介紹一下利用該電路對運算放大器的參數進行測量。

一、輸入失調電壓Vosl的測量

令VI1＝VI2=0(對地短接)，閉合S1、S2、S4，打開S3，由于R1、R2很小，這時輸入失調電流IOS，在R1上產生的附加失調電壓很小。例如IOS1＝0.1μA則VOSR1=R1?*IOS1?=5μV?由于VOS一般為mV數量級，所以此附加失調電壓可略去不計。圖中A1、A2等效于一個AO＝AO1*AO2的放大器，因為VOS2的影響折算到待測放大器的輸入端時要除以AO1，所以VOS2與VOS1相比也可以略去不計，此外由于AO很高，所以閉環增益表達式Af=1十(R3／R1)是足夠精確的。于是有????????????????????????????????????????????????，若測得VOS2=1V，則VOS1＝1mV。

二、輸入失調電流IOS1的測量

令VI1＝VI2=0閉合S1、S2、S4，打開S3，測出。然后打開S1、S2，測出VO2。此時有：

式中，將和相減，就可求得。

三、輸入偏置電流I_B的測量

令VI1＝VI2=0，閉合S2、S4，打開S1、S3，測出。

然后，打開S2，閉合S1，測出，由VI-≈VI+的關系得