[實用新型]一種可更換式內存測試座

在審

• 申請號: 201120005714.3
• 申請日: 2011-01-10
• 公開（公告）號: CN201927361U
• 公開（公告）日: 2011-08-10
• 發明（設計）人: 彭玉元
• 申請（專利權）人: 彭玉元
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種內存測試座，具體是一種可實現同時對多個內存測試的可更換式內存測試座。

背景技術

閃存(FLASH)是一種廣泛用于U盤、移動硬盤、SD卡、TF卡、GPS、數碼相機、DV等各種日常數碼必備品的重要的元器件，其封裝有多種方式，比較典型的有TSOP，BGA，LGA等類型。在生產過程中內存都需要經過檢測后才可以投入市場，但是現有的檢測量產設備結構單一，需要針對各種不同類型的內存，以及各種內存不同的測試方案分別獨立制造測試座進行測試，不但測試效率低下，而且制造多套測試設備造價高，浪費大量生產成本。

實用新型內容

針對現有內存測試設備的不足，本實用新型提供一種可更換式內存測試座，其可實現同時對多種不同內存，不同測試方案進行檢測，大大提高檢測效率，降低了生產檢測成本。

為實現該目的，本實用采取的技術方案是：一種可更換式內存測試座，包括PCB板、PCB板上固定的測試座以及連接至電腦的USB接口，所述測試座為兩個或兩個以上，所述各測試座分別連接至USB座，USB座上連接測試方案，所述USB座通過集線器與所述USB接口連接。

實現本實用新型目的的技術方案還進一步包括，所述測試座與USB座位于PCB板的異側。

并且，所述各測試座分別對應設有狀態指示燈及控制開關。

本實用新型在同一PCB板上同時集成多種不同的內存測試座，并且采用插接的方式連接各種不同的測試方案，從而可實現同時對多種不同的內存，單種或多種內存不同的測試方案同時進行測試的目的，不但大大提高檢測效率，而且無需制造多個測試設備，降低了企業生產檢測成本。

附圖說明

圖1為本實用新型主視圖。

圖2為本實用新型后視圖。

圖3為本實用新型與電腦連接示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖及實施例對本實用新型結構及工作原理進行詳細說明。

如圖1、圖2所示，本實用新型所述測試座包括PCB板1、PCB板上固定的測試座3以及連接至電腦的USB接口2。所述測試座3包括針對以TSOP，BGA，LGA等多種方式封裝的內存的測試座，實現了在同一測試板上測試多種內存的目的，且所述測試座3為兩個或兩個以上，由于各測試方案商提供的檢測量產程序最佳量產對象個數為16，因此，本實用新型以16個測試座為實施例，測試座為四個，八個，三十二個，六十四個等數目時，其結構原理與本實用新型完全相同，只需對PCB線路進行簡單的重復即可。各測試座3分別對應設有控制開關4，用于實現批量或者單獨控制此測試對象的工作，并同時設狀態指示燈5，顯示該測試座的工作狀態。

所述各測試座3分別連接至USB座6，本實用新型優選將USB座6設于PCB板1的異側。各USB座6通過集線器8與所述USB接口2連接，USB座6上可分別連接各種測試方案7。

測試時，將本實用新型USB接口2通過USB連接線9連接至電腦10，如圖3，在各測試座上分別插裝待測試的內存，并在USB座上插接待測試內存的測試方案，即可實現同時對多種不同的內存，單種或多種內存不同的測試方案同時進行測試的目的，大大提高了檢測效率。

以上內容是結合具體的優選實施方式對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本實用新型的保護范圍。