[發明專利]一種具有搭橋晶粒結構的多晶硅薄膜的制備方法無效
| 申請號: | 201110461881.3 | 申請日: | 2011-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN103762175A | 公開(公告)日: | 2014-04-30 |
| 發明(設計)人: | 趙淑云;郭海成;王文 | 申請(專利權)人: | 廣東中顯科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L21/20;C30B31/22 |
| 代理公司: | 北京瑞恒信達知識產權代理事務所(普通合伙) 11382 | 代理人: | 苗青盛;王鳳華 |
| 地址: | 528225 廣東省佛*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 搭橋 晶粒 結構 多晶 薄膜 制備 方法 | ||
1.一種制備具有搭橋晶粒結構的多晶硅薄膜的方法,包括:
1)在多晶硅薄膜表面旋涂光刻膠;
2)軟烤,然后使用光刻機對光刻膠進行曝光;
3)進行顯影處理,在光刻膠中形成多個條形凹槽,周期為0.5-1μm;
4)硬烤,然后通過離子注入進行摻雜。
2.一種制備具有搭橋晶粒結構的多晶硅薄膜的方法,包括:
1)在非晶硅薄膜表面旋涂光刻膠;
2)軟烤,然后使用光刻機對光刻膠進行曝光;
3)進行顯影處理,在光刻膠中形成多個條形凹槽,周期為0.5-1μm;
4)硬烤,然后通過離子注入進行摻雜;
5)使非晶硅薄膜結晶化。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其中軟烤的步驟包括在90攝氏度下加熱1分鐘。
4.根據權利要求1或2所述的方法,其中硬烤的步驟包括在120攝氏度下加熱。
5.根據權利要求1或2所述的方法,其中在波長為365nm光下對光刻膠進行曝光。
6.根據權利要求1或2所述的方法,其中在曝光后,在110℃加熱1分鐘之后,再進行顯影處理。
7.根據權利要求1或2所述的方法,摻雜濃度在1012/cm2到1016/cm2范圍內。
8.根據權利要求1或2所述的方法,摻雜濃度在1014/cm2到4×1015/cm2范圍內。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





