[發(fā)明專利]一種具有搭橋晶粒結(jié)構(gòu)的多晶硅薄膜的制備方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110461881.3 | 申請日: | 2011-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN103762175A | 公開(公告)日: | 2014-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙淑云;郭海成;王文 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東中顯科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L21/20;C30B31/22 |
| 代理公司: | 北京瑞恒信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11382 | 代理人: | 苗青盛;王鳳華 |
| 地址: | 528225 廣東省佛*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 搭橋 晶粒 結(jié)構(gòu) 多晶 薄膜 制備 方法 | ||
1.一種制備具有搭橋晶粒結(jié)構(gòu)的多晶硅薄膜的方法,包括:
1)在多晶硅薄膜表面旋涂光刻膠;
2)軟烤,然后使用光刻機(jī)對光刻膠進(jìn)行曝光;
3)進(jìn)行顯影處理,在光刻膠中形成多個(gè)條形凹槽,周期為0.5-1μm;
4)硬烤,然后通過離子注入進(jìn)行摻雜。
2.一種制備具有搭橋晶粒結(jié)構(gòu)的多晶硅薄膜的方法,包括:
1)在非晶硅薄膜表面旋涂光刻膠;
2)軟烤,然后使用光刻機(jī)對光刻膠進(jìn)行曝光;
3)進(jìn)行顯影處理,在光刻膠中形成多個(gè)條形凹槽,周期為0.5-1μm;
4)硬烤,然后通過離子注入進(jìn)行摻雜;
5)使非晶硅薄膜結(jié)晶化。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其中軟烤的步驟包括在90攝氏度下加熱1分鐘。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其中硬烤的步驟包括在120攝氏度下加熱。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其中在波長為365nm光下對光刻膠進(jìn)行曝光。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其中在曝光后,在110℃加熱1分鐘之后,再進(jìn)行顯影處理。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,摻雜濃度在1012/cm2到1016/cm2范圍內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,摻雜濃度在1014/cm2到4×1015/cm2范圍內(nèi)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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