[發(fā)明專(zhuān)利]一種氣體中元素的監(jiān)測(cè)方法及系統(tǒng)

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110461683.7
• 申請(qǐng)日: 2011-12-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102539465A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葉華俊;姜雪嬌;郭生良;陳俠勝
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 聚光科技(杭州)股份有限公司;杭州聚光環(huán)保科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N23/223
• 分類(lèi)號(hào): G01N23/223;G01N1/40
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種氣體中元素的監(jiān)測(cè)方法，包括以下步驟：

A、氣體被采樣單元采集到流路中；

所述采樣單元包括采樣管路，所述采樣管路包括上管路和下管路；

B、檢測(cè)分析單元對(duì)仍處于流路中的氣體中的顆粒物進(jìn)行檢測(cè)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于：

在步驟A中，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上；

所述上管路位于濾膜的上方，下管路位于濾膜的下方；

在步驟B中，檢測(cè)分析單元對(duì)富集在濾膜上仍處于采樣區(qū)域的顆粒物進(jìn)行檢測(cè)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于：所述上管路和/或下管路可被X射線(xiàn)穿過(guò)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于：所述上管路和/或下管路為聚四氟乙烯管或硅膠管或氟塑料管或PU聚氨酯管。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于：X射線(xiàn)源發(fā)出的X射線(xiàn)透過(guò)上管路或下管路照射在顆粒物上，顆粒物被激發(fā)后產(chǎn)生的X射線(xiàn)熒光透過(guò)上管路或下管路被探測(cè)器接收。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于：

在步驟A中，采樣后，將上管路和/或下管路從采樣點(diǎn)移開(kāi)，使采樣管路從采樣狀態(tài)轉(zhuǎn)換至檢測(cè)狀態(tài)；

在步驟B中，檢測(cè)完畢后，將上管路和/或下管路移至采樣點(diǎn)，使采樣管路從檢測(cè)狀態(tài)恢復(fù)至采樣狀態(tài)。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于：識(shí)別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)，并根據(jù)識(shí)別結(jié)果控制濾膜移動(dòng)單元移動(dòng)濾膜。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于：根據(jù)采樣單元的抽氣流量或檢測(cè)分析單元的檢測(cè)結(jié)果識(shí)別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)。

9.一種氣體中元素的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，包括采樣單元、檢測(cè)分析單元和控制單元，所述采樣單元包括采樣管路，所述檢測(cè)分析單元包括X射線(xiàn)源和探測(cè)器，其特征在于：

所述采樣管路包括上管路和下管路；

所述X射線(xiàn)源和探測(cè)器分別位于上管路和/或下管路的側(cè)面；

被采集到采樣管路中仍處于流路中的氣體中的顆粒物被X射線(xiàn)源發(fā)出的X射線(xiàn)激發(fā)，所產(chǎn)生的X射線(xiàn)熒光被探測(cè)器接收。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：

所述監(jiān)測(cè)系統(tǒng)還包括濾膜和濾膜移動(dòng)單元，所述上管路位于濾膜的上方，下管路位于濾膜的下方。

11.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述上管路和/或下管路可被X射線(xiàn)穿過(guò)。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述上管路和/或下管路為聚四氟乙烯管或硅膠管或氟塑料管或PU聚氨酯管。

13.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述上管路和/或下管路為活動(dòng)部件，在控制單元的控制下移動(dòng)。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述監(jiān)測(cè)系統(tǒng)還包括時(shí)序控制模塊，所述時(shí)序控制模塊控制監(jiān)測(cè)系統(tǒng)按照以下時(shí)序工作：

采樣，氣體被采樣單元采集到流路中，氣體中的顆粒物被富集到濾膜上；

移開(kāi)上管路和/或下管路，所述控制單元控制上管路和/或下管路從采樣點(diǎn)移開(kāi)，使采樣管路從采樣狀態(tài)轉(zhuǎn)換至檢測(cè)狀態(tài)；

檢測(cè)，檢測(cè)分析單元檢測(cè)富集在濾膜上的顆粒物；

上管路和/或下管路復(fù)位，控制單元控制上管路和/或下管路移至采樣點(diǎn)，使采樣管路從檢測(cè)狀態(tài)恢復(fù)至采樣狀態(tài)。

15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述控制單元識(shí)別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)，并根據(jù)識(shí)別結(jié)果控制濾膜移動(dòng)單元移動(dòng)濾膜。

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述控制單元根據(jù)采樣單元的抽氣流量或檢測(cè)分析單元的檢測(cè)結(jié)果識(shí)別濾膜處于采樣區(qū)域部分的狀態(tài)。

17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述濾膜為帶狀或片狀。