[發明專利]一種非AD口按鍵檢測電路及其檢測方法

有效

• 申請號: 201110458536.4
• 申請日: 2011-12-31
• 公開（公告）號: CN102565694A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 莊耿
• 申請（專利權）人: 廣東盈科電子有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 佛山市中迪知識產權代理事務所(普通合伙) 44283
• 代理人: 薛家駒

技術領域

本發明屬于應用電子技術領域，具體涉及一種非AD口按鍵檢測電路及其檢測方法。

?

背景技術

當一個系統的通用I/O端口較少時，通常我們只能支持較少的按鍵，或者需要通過增加附加的器件來增加可以識別的按鍵數，例如當系統只有兩個普通I/O端口時，只能檢測按鍵S7、按鍵S8個按鍵，如圖2所示。中國發明專利申請號200810305303.9公開了一種按鍵檢測電路及其方法的技術方案，按該發明專利的方法，三個I/O端口只能檢測到6個按鍵。

又如：中國實用新型專利申請號201020123289.3公開了一種按鍵檢測電路，該技術方案是一種用AD口檢測按鍵的方法。雖然兩個端口也可以控制很多按鍵，但是從成本上來講帶AD口的單片機比較貴，而且檢測的按鍵數量越多，需要AD口的分辨率越高，這樣就會造成開發成本上升，不利于競爭。

發明內容

本發明所要解決的技術問題，就是在I/O較少的情況下增加識別按鍵數，提供一種只需要兩個I/O口就能檢測六個按鍵的非AD口按鍵檢測電路及其檢測方法。

實現本發明目的的技術方案：一種非AD口讀鍵的按鍵檢測電路，其特征在于，包括電阻R1、電阻R2、二極管D1、二極管D2、二極管D3、二極管D4、按鍵S1、按鍵S2、按鍵S3、按鍵S4、按鍵S5、按鍵S6以及IC芯片的電源輸出VCC端口、I/O?1端口、I/O?2端口、GND接地端口，按鍵S1、按鍵S2、按鍵S3的一端均接地，按鍵S1另一端與I/O1端口、電阻R1的一端連接，電阻R1的另一端接電源輸出VCC端口；按鍵S2的另一端與I/O2端口、電阻R2的一端連接，電阻R2的另一端接電源輸出VCC端口；按鍵S3的另一端分別與二極管D1的陰極、二極管D2的陽極連接，二極管D1的陽極接I/O?2端口，二極管D2的陰極接I/O?1端口；所述按鍵S4、按鍵S5、按鍵S6的一端均與I/O?2端口連接，按鍵S5的另一端與二極管D3的陰極連接，按鍵S6的另一端與二極管D4的陽極連接，二極管D3的陽極、二極管D4的陰極、按鍵S4的另一端均與I/O?1端口連接。

一種采用非AD口讀鍵的按鍵檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

a、觸發按鍵S1－S6的任意按鍵；

b、I/O?1端口、I/O?2端口通過系統分別同時設置為輸入狀態、同時設置為輸出狀態、相互交替地互設為輸入輸出狀態；

c、IC芯片運算處理后，輸出按鍵狀態數據。

本發明的有益效果：通過以上方案可以使兩個I/O口能控制六個按鍵，提高I/O口的使用效率，減少單片機I/O口資源需求，降低整機成本。

?

附圖說明

圖1為本發明圖1的按鍵檢測電路電路圖。

圖2為現有技術的按鍵檢測電路電路圖。

?

具體實施方式

下面結合附圖對本發明所述非AD口按鍵檢測電路及其檢測方法的具體實施方式作進一步詳細說明。

如圖1所示：本發明所述的非AD口讀鍵的按鍵檢測電路，?由電阻R1、電阻R2、二極管D1、二極管D2、二極管D3、二極管D4、按鍵S1、按鍵S2、按鍵S3、按鍵S4、按鍵S5、按鍵S6以及IC芯片的電源輸出VCC端口、I/O?1端口、I/O?2端口、GND接地端口組成，按鍵S1、按鍵S2、按鍵S3的一端均接地，按鍵S1另一端與I/O1端口、電阻R1的一端連接，電阻R1的另一端接電源輸出VCC端口；按鍵S2的另一端與I/O2端口、電阻R2的一端連接，電阻R2的另一端接電源輸出VCC端口；按鍵S3的另一端分別與二極管D1的陰極、二極管D2的陽極連接，二極管D1的陽極接I/O?2端口，二極管D2的陰極接I/O?1端口；所述按鍵S4、按鍵S5、按鍵S6的一端均與I/O?2端口連接，按鍵S5的另一端與二極管D3的陰極連接，按鍵S6的另一端與二極管D4的陽極連接，二極管D3的陽極、二極管D4的陰極、按鍵S4的另一端均與I/O?1端口連接。

采用非AD口讀鍵的按鍵檢測方法，包括以下步驟：

a、觸發按鍵S1－S6的任意按鍵；

b、I/O?1端口、I/O?2端口通過系統分別同時設置為輸入狀態、同時設置為輸出狀態、相互交替地互設為輸入輸出狀態；

c、IC芯片運算處理后，輸出按鍵狀態數據。

具體的檢測運算如下：