[發(fā)明專(zhuān)利]一種檢測(cè)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110456701.2 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102539834A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張?zhí)m;楊守安;彭福英;于湘濤;顧英;郭琳瑞;周峰 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 航天科工慣性技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01P21/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01P21/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100070 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 組件 擺動(dòng) 對(duì)稱(chēng)性 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的裝置及方法,具體涉及一種檢測(cè)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的裝置及方法,屬于加速度計(jì)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
加速度計(jì)一般由表芯和加表電路組成,其中加速度計(jì)表芯是加速度計(jì)的核心部件,擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性檢測(cè)是加速度計(jì)表芯裝配工序的一個(gè)重要環(huán)節(jié),這一環(huán)節(jié)把得嚴(yán)、把得住能大大提高加速度計(jì)裝配的成品率。所以擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的檢測(cè)尤為重要,而提高加速度計(jì)表芯裝配質(zhì)量的檢測(cè)手段是此環(huán)節(jié)的關(guān)鍵所在。
現(xiàn)有技術(shù)不能對(duì)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性進(jìn)行檢測(cè),使得問(wèn)題表無(wú)法剔除,整個(gè)加速度計(jì)裝配完成后由于表芯裝配過(guò)程中擺組件擺動(dòng)不對(duì)稱(chēng)導(dǎo)致整表報(bào)廢的占10%以上。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)不足,提供一種能檢測(cè)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的裝置和方法,填補(bǔ)加速度計(jì)檢測(cè)技術(shù)中的一個(gè)空白。
本發(fā)明的技術(shù)解決方案:一種檢測(cè)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的裝置,包括擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性檢測(cè)模塊、加表電路和電源,其中擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性檢測(cè)模塊包括若干個(gè)電容C1~Cn、第一開(kāi)關(guān)K1和第二開(kāi)關(guān)K2,電容C1~Cn的一端連接后接地,另一端分別與第二開(kāi)關(guān)K2的若干個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn)連接,第二開(kāi)關(guān)K2的常閉觸點(diǎn)與第一開(kāi)關(guān)K1常閉觸點(diǎn)相連,開(kāi)關(guān)K1的兩個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn)分別與待檢表芯中的上下鍍金膜板連接,加表電路與待檢表芯連接,電源給加表電路供電,若干個(gè)電容C1~Cn按照電容量從大到小或從小到大的順序排列,電容C1~Cn的電容量取值為待檢表芯初始電容量的0.5~2倍,相鄰兩電容之間的差值為8pF~12pF,n≥4。
一種檢測(cè)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的方法,通過(guò)以下步驟實(shí)現(xiàn):
第一步,制作檢測(cè)擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的裝置;
第二步,將待檢表芯接入擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性的裝置上,開(kāi)關(guān)K1的兩個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn)分別與待檢表芯中的上下鍍金膜板連接,待檢表芯與加表電路連接,電源供電;
第三步,開(kāi)關(guān)K1不閉合,加表電路檢測(cè)得到待檢表芯的初始電壓V0;
第四步,令i=1;
第五步,開(kāi)關(guān)K2閉合電容Ci,分別閉合開(kāi)關(guān)K1的兩個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn),加表電路檢測(cè)得到待檢表芯的上電壓Vis和下電壓Vix;
第六步,將第五步得到的上電壓Vis和下電壓Vix分別與第三步得到的初始電壓V0做差,得到上電壓差ΔVis和下電壓差ΔVix;
第七步,若滿(mǎn)足|ΔVis-ΔVix|≤1mV,轉(zhuǎn)入第八步,若不滿(mǎn)足|ΔVis-ΔVix|≤1mV,轉(zhuǎn)入第十步;
第八步,若i<n,令i=i+1,轉(zhuǎn)入第五步,若i=n,轉(zhuǎn)入第九步,n為電容總數(shù);
第九步,分別對(duì)第五步得到上電壓Vis和下電壓Vix進(jìn)行判斷,i=1,2,…n,判斷標(biāo)準(zhǔn)為:
若上電壓V1s,V2s,…Vns的變化趨勢(shì)與電容C1,C2,…Cn的變化趨勢(shì)負(fù)相關(guān)且下電壓V1x,V2x,…Vnx的變化趨勢(shì)與電容C1,C2,…Cn的變化趨勢(shì)正相關(guān),則判斷待檢表芯擺組件的擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性合格,換上另一待檢表芯,轉(zhuǎn)入第二步,否則轉(zhuǎn)入第十步;
第十步,待檢表芯擺組件的擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性不合格,換上另一待檢表芯,轉(zhuǎn)入第二步。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果:
(1)本發(fā)明彌補(bǔ)了石英撓性加速度計(jì)表芯裝配質(zhì)量的檢測(cè)手段中的一個(gè)技術(shù)空白,使擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性檢測(cè)成為可能,保證加速度計(jì)裝配質(zhì)量檢測(cè)的及時(shí)性;
(2)使用本發(fā)明后在表芯裝配過(guò)程中就將擺組件擺動(dòng)不對(duì)稱(chēng)的表芯提前剔除,節(jié)約了成本,提高了加速度計(jì)裝配的成品率;
(3)本發(fā)明裝置和方法簡(jiǎn)單,使用方便,不僅保證了加速度計(jì)裝配質(zhì)量檢測(cè)的及時(shí)性,同時(shí)提高了生產(chǎn)效率;
(4)本發(fā)明通過(guò)大量試驗(yàn)和理論研究,確定了電容的選取標(biāo)準(zhǔn),使擺組件擺動(dòng)對(duì)稱(chēng)性判斷更為準(zhǔn)確、直觀。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明裝置電氣結(jié)構(gòu)示意圖(四個(gè)電容為例);
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