[發明專利]一種太陽能電池組件PID的測試方法

無效

• 申請號: 201110456148.2
• 申請日: 2011-12-30
• 公開（公告）號: CN102565658A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 柳國偉;徐德生;張寶華
• 申請（專利權）人: 上海晶澳太陽能科技有限公司;合肥晶澳太陽能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 廣州知友專利商標代理有限公司 44104
• 代理人: 李海波;侯莉

技術領域

本發明涉及太陽能應用技術領域，特別涉及一種太陽能電池組件PID的測試方法。

背景技術

太陽能電池組件是由數個太陽能電池依次通過焊帶焊接成電池串，并在電池串的首尾用匯流帶拼焊連接成電池組件半成品設置在封裝結構中，封裝結構從上至下依次包括鋼化玻璃、塑料膜(EVA)及聚氟乙烯復合膜(TPT)，再通過真空層封裝而構成。

1978年Hoffman和Ross首次提出了高電壓應力(High?Voltage?Stress，簡寫HVS)會對太陽能電池組件的長期穩定性產生影響，即電勢導致性能降低(Potential-induced?Degradation，簡寫PID)，時至2006年，隨著科技的不斷發展，人們已經意識到在高壓情況下，電流泄漏會給太陽能電池組件系統帶來較多的功率損失。

雖然，在IEC61215國際標準的認證流程中并未有對太陽能電池組件PID進行測試的規定，但是，近年來在太陽能電池組件系統的應用過程中，發生了諸多由于高壓導致太陽能電池組件功率衰減的案例，其嚴重影響了太陽能電池組件在各應用領域的廣泛使用和推廣。因此，測試太陽能電池組件PID實為必要。

然而，目前在國內還尚未出現對太陽能電池組件PID進行測試的方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種安全可靠、評價合理準確的太陽能電池組件PID的測試方法。

本發明的目的通過以下的技術措施來實現：一種太陽能電池組件PID的測試方法，其特征在于包括以下步驟：

(1)測試并記錄被測太陽能電池組件的初始數據；

(2)將被測太陽能電池組件安裝在高低溫實驗環境箱內且二者之間做絕緣處理；

(3)將被測太陽能電池組件正負極短接后與高壓加載設備的負極連接，太陽能電池組件的邊框與高壓加載設備的正極連接；

(4)啟動高低溫實驗環境箱，開啟高壓加載設備并調試其輸出電壓值為600～1000V，同時開啟電流監控儀進行漏電監控；

(5)持續設定時間后關閉高壓加載設備及高低溫實驗環境箱，待被測太陽能電池組件的溫度下降至室溫后將其取出；

(6)測試并記錄被測太陽能電池組件的最終數據；

(7)對比被測太陽能電池組件的初始數據與最終數據，評價功率衰減；

(8)測試完畢。

本發明的高低溫實驗環境箱可模擬不同溫度、濕度等復雜的外界環境條件，還可由高壓加載設備對太陽能電池組件施加長時間連續1000V直流電加載，因此本發明能夠準確模擬太陽能電池組件在現實應用過程中受高電壓應力影響的條件。

作為本發明的一種實施方式，所述初始數據包括電性能參數、EL缺陷參數及濕漏電參數，所述參數分別由電性能測試儀、EL缺陷測試儀及濕漏電測試儀測試得到。

作為本發明的優選實施方式，所述電性能測試儀具有3A級燈光源，所述EL缺陷測試儀具有1200萬像素的照相裝置。

作為本發明的一種實施方式，在所述步驟(2)中，絕緣處理是在將被測太陽能電池組件安裝在測試架中之前，在被測太陽能電池組件的邊框上加裝絕緣護套。

為了獲得被測太陽能電池組件上良好的電勢均勻性，作為本發明的進一步改進，在進行所述步驟(2)之前，采用導電材料包覆在太陽能電池組件的邊框上。

作為本發明推薦的方式，所述導電材料的電阻值小于1歐姆，可以采用銅箔、鋁箔等。

本發明還具有以下實施方式，在所述步驟(5)中，設定時間為20小時，完成步驟(6)后，重復步驟(5)、(6)直至設定時間總和為100小時。

作為本發明的另一種實施方式，在所述步驟(5)中，設定時間為100小時。

本發明所述高低溫實驗環境箱內的溫度為0～90℃，濕度為0～97％。

與現有技術相比，本發明具是有如下顯著的效果：

(1)本發明的高低溫實驗環境箱可模擬不同溫度、濕度等復雜的外界環境條件，還可由高壓加載設備對太陽能電池組件施加長時間連續1000V直流電加載，因此本發明能夠準確模擬太陽能電池組件在現實應用過程中受高電壓應力影響的條件。

(2)本發明通過測試幾組電性能參數、EL缺陷參數及濕漏電參數，比較并進行功率衰減評價來判斷太陽能電池組件PID的具體情況，測試太陽能電池組件PID的準確度高。

(3)本發明太陽能電池組件與高低溫實驗環境箱之間做絕緣處理，具體是在太陽能電池組件的邊框上加裝絕緣護套，保障了測試的安全可靠性。