[發(fā)明專利]一種基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)、設(shè)備以及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110455644.6
• 申請日: 2011-12-30
• 公開（公告）號: CN102546058A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 汪洪川
• 申請（專利權(quán)）人: 成都市大富科技有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04W24/08
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實施例涉及移動通信技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)、設(shè)備以及方法。

背景技術(shù)

射頻拉遠單元全稱：Radio?Remote?Unit簡稱：RRU。射頻拉遠單元分成近端機即無線基帶控制和遠端機即射頻拉遠(RRU)兩部分，二者之間通過光纖連接，可以穩(wěn)定地與主流廠商的設(shè)備進行連接。3G網(wǎng)絡(luò)大量使用分布式基站架構(gòu)，RRU和BBU(基帶處理單元)之間需要用光纖連接。一個BBU可以支持多個RRU。采用BBU+RRU多通道方案，可以很好地滿足大型場館的室內(nèi)覆蓋需求。

本申請發(fā)明人在長期研發(fā)中發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有的多通道TD?RRU(時分射頻拉遠單元，Time?Division?Radio?Remote?Unit)測試方法，一般分成上行測試和下行測試，分別搭建兩套測試環(huán)境，盡管有些設(shè)備與線路是可以共用的，但是實際情況是所有設(shè)備與線路都配備兩套，分別用于上行測試和下行測試，所以測試效率比較低下，且測試環(huán)節(jié)煩瑣，容易出錯。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例主要解決的技術(shù)問題是提供一種基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)、設(shè)備以及方法，能夠使上行和下行測試在一個測試平臺上來實現(xiàn)，提高測試效率，節(jié)省測試的人力和設(shè)備資源，另一方面大大降低了設(shè)備成本。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例采用的一個技術(shù)方案是：提供一種基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)，包括：環(huán)行裝置和控制裝置；所述環(huán)行裝置包括至少三個端口；所述三個端口依次對應(yīng)多通道射頻拉遠單元、上行側(cè)發(fā)射單元以及下行側(cè)接收單元；所述控制裝置包括上下行測試模塊，所述上下行測試模塊用于控制多通道射頻拉遠單元所有通道與上行側(cè)發(fā)射單元、下行側(cè)接收單元之間分別進行上行和下行測試。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例采用的另一個技術(shù)方案是：提供一種基于多通道射頻拉遠單元的自動測試設(shè)備，包括：環(huán)行裝置；所述環(huán)行裝置用于進行上行和下行測試，并且包括至少三個端口；所述三個端口依次對應(yīng)多通道射頻拉遠單元、上行側(cè)發(fā)射單元以及下行側(cè)接收單元。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例采用的又一個技術(shù)方案是：提供一種基于多通道射頻拉遠單元的自動測試方法，包括：通過預(yù)置的環(huán)形裝置在測試用連接通路中進行上行和下行的數(shù)據(jù)傳輸；對多通道射頻拉遠單元的所有通道分別進行上行和下行測試；通過所述上行和下行測試得到上行和下行的測試數(shù)據(jù)；將所述上行和下行的測試數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)指標(biāo)分析，并自動生成測試報表。

本發(fā)明實施例的有益效果是：區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明實施例的環(huán)行裝置和控制裝置使多通道射頻拉遠單元所有通道的上行測試和下行測試在一個測試平臺上來實現(xiàn)，通過這種方式，能夠提高測試效率，節(jié)省測試的人力和設(shè)備資源。

附圖說明

圖1是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的另一實施例的環(huán)行裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的又一實施例的多通道耦合裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的又一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的又一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的又一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的又一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的又一實施例的TD-SCDMARRU多通道自動測試框圖；

圖9是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試設(shè)備的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖10是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試方法的一實施例的流程圖；

圖11是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試方法的另一實施例的流程圖；

圖12是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試方法的又一實施例的流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進行詳細說明。

圖1是本發(fā)明基于多通道射頻拉遠單元的自動測試系統(tǒng)的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，所述系統(tǒng)包括：環(huán)行裝置101以及控制裝置102。

環(huán)行裝置101包括至少三個端口；如圖2所示，三個端口依次對應(yīng)關(guān)系是：端口1對應(yīng)多通道射頻拉遠單元201、端口2對應(yīng)下行側(cè)接收單元202以及端口3對應(yīng)上行側(cè)發(fā)射單元203。