[發明專利]一種基于eMBMS系統執行上行鏈路反饋的方法和裝置

有效

• 申請號: 201110455201.7
• 申請日: 2011-12-30
• 公開（公告）號: CN103188004A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 徐勛華;劉漪;常虹
• 申請（專利權）人: 上海貝爾股份有限公司
• 主分類號: H04B7/06
• 分類號: H04B7/06;H04W74/08
• 代理公司: 北京漢昊知識產權代理事務所(普通合伙) 11370
• 代理人: 羅朋

1.一種用于基于eMBMS系統執行上行鏈路反饋的反饋裝置，所述反饋裝置包括：

計時裝置，用于啟動eMBMS計時操作，以獲得用于判斷當前時間是否到期的當前eMBMS報告時間；

統計裝置，用于每接收來自基站的一個eMBMS下行鏈路子幀，即累計相應的反饋統計信息，其中，所述反饋統計信息根據ACK統計值與NACK統計值獲得；

質量獲取裝置，用于每接收來自基站的一個eMBMS下行鏈路子幀，即獲取當前的信道質量相關信息；

請求發起裝置，用于當計時裝置判斷時間到期時，發起RACH請求；

發送裝置，用于當在隨機接入時間窗口內獲得隨機接入響應時，向基站發送RRC連接請求，其中，所述RRC連接請求包括所述反饋統計信息以及基于所述信道質量相關信息所獲得的CQI信息。

2.根據權利要求1所述的反饋裝置，其中，所述反饋統計信息包括ACK統計值和/或NACK統計值所占的比例，其中，所述統計裝置還包括：

第一子統計裝置，用于當判斷已接收到的eMBMS下行鏈路子幀的數據校驗正確時，ACK統計值累加1；

第二子統計裝置，用于當判斷已接收到的eMBMS下行鏈路子幀的數據校驗不正確時，NACK統計值累加1；

統計比例裝置，用于根據所述ACK統計值與所述NACK統計值，獲得ACK統計值和/或NACK統計值所占的比例。

3.根據權利要求1或2所述的反饋裝置，其中，當所述信道質量相關信息包括SINR時，所述質量獲取裝置還包括：

第一子獲取裝置，用于每接收來自基站的一個eMBMS下行鏈路子幀，即獲取當前的SINR；

評價獲取裝置，用于獲取已獲得的各個SINR的平均值，以基于所述平均值來確定CQI信息。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的反饋裝置，其中，所述反饋裝置還包括：

第一計時調整裝置，用于當未能在隨機接入時間窗口內獲得隨機接入響應，且當前eMBMS報告時間小于預定最大eMBMS報告時間時，將所述當前eMBMS報告時間增加預定時間增量；

第二計時調整裝置，用于當未能在隨機接入時間窗口內獲得隨機接入響應，且所述當前eMBMS報告時間大于等于所述預定最大eMBMS報告時間時，將所述當前eMBMS報告時間設置預定最大eMBMS報告時間。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的反饋裝置，其中，所述反饋裝置還包括：

重置裝置，用于重新啟動所述計時裝置開始計時，并重置所述ACK統計值和NACK統計值。

6.一種在用戶裝置中實現的用于基于eMBMS系統的上行鏈路反饋的方法，所述方法包括以下步驟：

a啟動eMBMS計時操作，以獲得用于判斷當前時間是否到期的當前eMBMS報告時間；

b每接收來自基站的一個eMBMS下行鏈路子幀，即累計相應的反饋統計信息，其中，所述反饋統計信息根據ACK統計值與NACK統計值獲得；

c每接收來自基站的一個eMBMS下行鏈路子幀，即獲取當前的信道質量相關信息；

d當計時裝置判斷時間到期時，發起RACH請求；

e當在隨機接入時間窗口內獲得隨機接入響應時，發送RRC連接請求，其中，所述RRC連接請求包括所述反饋統計信息以及基于所述信道質量相關信息所獲得的CQI信息。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，所述反饋統計信息包括ACK統計值和/或NACK統計值所占的比例，其中，所述步驟b還包括：

-當判斷已接收到的eMBMS下行鏈路子幀的數據校驗正確時，ACK統計值累加1；

-當判斷已接收到的eMBMS下行鏈路子幀的數據校驗不正確時，NACK統計值累加1；

-根據所述ACK統計值與所述NACK統計值，獲得ACK統計值和/或NACK統計值所占的比例。

8.根據權利要求6或7所述的方法，其中，當所述信道質量相關信息包括SINR時，所述步驟c還包括：

-每接收來自基站的一個eMBMS下行鏈路子幀，即獲取當前的SINR；

-獲取已獲得的各個SINR的平均值，以基于所述平均值來確定CQI信息。