[發(fā)明專利]用于輻射成像的探測器設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110453475.2 | 申請日: | 2009-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN102540234A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李元景;王永強;張清軍;繆慶文;代主得;王鈞效;姚楠 | 申請(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/185 | 分類號: | G01T1/185 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 臧永杰;王忠忠 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 輻射 成像 探測器 設(shè)備 | ||
1.用于制造用來射線探測和輻射成像的探測器裝置的方法,所述方法包括:設(shè)置所述探測器裝置的密封外殼、陽極板、多電極條板和電子學(xué)電路組件,其中將所述陽極板、所述多電極條板設(shè)置在密封外殼中,其特征在于,所述方法還包括:
在所述密封外殼設(shè)置密封轉(zhuǎn)接電路板,其中將所述密封轉(zhuǎn)接電路板夾在底座和基板之間;
將所述電子學(xué)電路組件置于密封外殼外部;
使所述電子學(xué)電路組件和多電極條板通過所述密封轉(zhuǎn)接電路板進行信號連接。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,使所述密封轉(zhuǎn)接電路板由多層印刷電路板構(gòu)成,其內(nèi)層設(shè)有導(dǎo)電電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,設(shè)置柔性線路板或?qū)Ь€束,其中所述密封轉(zhuǎn)接電路板結(jié)合柔性線路板或?qū)Ь€束將電子學(xué)電路組件和多電極條板的信號連接起來。
4.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,將所述底座和所述基板分別設(shè)置柱狀凸起,所述陽極板和所述多電極條板分別用粘接劑粘接到底座柱狀凸起和基板柱狀凸起上。
5.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,使所述陽極板、多電極條板由印刷電路板制成。
6.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,使所述底座和基板由鋁或低原子序數(shù)金屬制成。
7.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述密封外殼中還設(shè)置密封橡膠圈,其中所述底座、密封轉(zhuǎn)接電路板、基板和密封橡膠圈之間通過多個螺釘進行連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述底座、密封轉(zhuǎn)接電路板、基板在與密封橡膠圈相接處的各個面上的表面粗糙度為3.2或以下。
9.?根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的方法,其特征在于,所述密封橡膠圈使用模具制造的無膠接面的橡膠。
10.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,射線進入的入射窗采用在底座上開槽的薄窗設(shè)計,薄窗與周邊結(jié)構(gòu)的采用弧形的過渡構(gòu)造。
11.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,底座側(cè)面設(shè)有充排氣口,用于抽真空和充入高壓氣體。
12.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,多電極條電路板上用于收集電荷的電極條陣列呈扇型分布,所有電極條指向射線源。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其特征在于,電極條數(shù)量可以從幾百至幾千條,電極條的寬度可以是零點幾至幾個毫米,電極條的長度可以是幾十毫米至幾百毫米。
14.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,密封外殼內(nèi)充入高壓惰性氣體。
15.?根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其特征在于,惰性氣體可以是氬氣、氙氣。
16.根據(jù)權(quán)利要求14或15所述的方法,其特征在于,惰性氣體的氣壓可以從0.1Mpa至3Mpa。
17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,射線可以是X射線或γ射線。
18.?一種用于利用根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法制造的探測器裝置進行射線探測和輻射成像的方法,包括以下步驟:
-由射線源發(fā)出的射線束經(jīng)過準(zhǔn)直縫穿過被檢物進入探測器裝置,
-使被檢物相對于射線源和探測器上下直線移動,
-測量沿掃描線經(jīng)探測器的多電極條電路板輸出的各通道的電荷量,
-得到來自被檢物內(nèi)部射線吸收系數(shù)分布圖像。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法,其中射線源可以是X射線管或γ射線源。
20.根據(jù)權(quán)利要求18或19所述的方法,其中被檢物可以是物品或人體。
21.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法,其中使被檢物相對于射線源和探測器上下直線移動的步驟包括被檢物作上下方向的直線運動,或者射線源和探測器同步作上下方向的直線運動,而被檢物不動。
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