[發(fā)明專利]帶有IC器件的透明硅基基板的制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110453108.2 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102543832A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊洪寶;余雷;洪乙又;樊衛(wèi)華;鐵斌;王緒豐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/762 | 分類號(hào): | H01L21/762 |
| 代理公司: | 南京天華專利代理有限責(zé)任公司 32218 | 代理人: | 徐冬濤;瞿網(wǎng)蘭 |
| 地址: | 210016 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 帶有 ic 器件 透明 硅基基板 制作方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于透射式硅基薄膜晶體管的基板的制作方法,尤其是一種微顯示、光電探測(cè)學(xué)、光通信、消費(fèi)類電子等領(lǐng)域中使用的透射式硅基透明基板的制造方法。具體地說是一種帶有IC器件的透明硅基基板的制作方法。
背景技術(shù)
目前,一般硅基基板是不透明的,在顯示領(lǐng)域主要是利用其反射式的用途,比如硅基液晶LCOS(Liquid?Crystal?on?Silicon),就是屬于反射式液晶器件,具有集成度高、分辨率高、器件本身開口率高的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用與微顯示領(lǐng)域。但是反射式硅基液晶在光學(xué)系統(tǒng)中,需要增加一個(gè)額外的偏振分光棱鏡PBS器件,用于將背光源的光照射到LCOS器件表面,反射回來的光也是經(jīng)過PBS器件投射到屏幕或者觀察著眼睛,造成整個(gè)光路的光利用率降低,光路結(jié)構(gòu)復(fù)雜,而且整個(gè)模塊的體積大,不符合頭盔或者近眼顯示等領(lǐng)域要求微顯示器件體積小、重量輕的特殊要求。
而透明的硅基基板可以做出透射式硅基液晶顯示器,背光源直接放置于液晶器件后面,不需要額外的PBS光學(xué)器件,具有光路簡(jiǎn)單、結(jié)構(gòu)緊湊、體積小、重量輕等優(yōu)勢(shì),同時(shí)也具有硅基液晶集成度高、分辨率高等優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)。
透明的硅基基板還可以廣泛應(yīng)用于光通信、消費(fèi)類電子等領(lǐng)域,用于全透明的場(chǎng)合,不但具有電學(xué)上面的高集成度和驅(qū)動(dòng)特性,還具有視覺上面的藝術(shù)審美特性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有的不透明的硅基基板需要PBS光學(xué)器件才能實(shí)現(xiàn)正常顯示而造成整個(gè)光路的光利用率降低,光路結(jié)構(gòu)復(fù)雜,而且整個(gè)模塊的體積大,不符合頭盔或者近眼顯示等領(lǐng)域要求微顯示器件體積小、重量輕的問題,發(fā)明一種無需PBS光學(xué)器件即可實(shí)現(xiàn)成像的帶有IC器件的透明硅基基板的制作方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:
一種帶有IC器件的透明硅基基板的制作方法,其特征是它包括以下步驟:
1)選擇絕緣硅片(SOI,SILICON?ON?INSULATOR)作為IC器件制作的基板,所述的絕緣硅片由襯底硅層3、二氧化硅絕緣層2和器件硅層1構(gòu)成,器件硅層1位于頂層,二氧化硅絕緣層2位于襯底硅層3和器件硅層1之間;
2)在器件硅層1上制作IC器件;
3)采用高溫氧化法將器件硅層1上未制作IC器件的部分進(jìn)行氧化形成透明二氧化硅;
4)將IC器件上需要與外界電氣連接的部分提前連接到二氧化硅絕緣層(2)的上面,以方便后續(xù)工藝將電極引出;
5)在IC器件上面做鈍化層11和遮光層12,以保護(hù)IC器件在后續(xù)制作中不受損傷,以及器件在應(yīng)用過程中,不受外界光的干擾,而引起器件性能的衰退和劣化;
6)將安裝IC器件的器件硅層1通過光學(xué)膠與透明玻璃基板粘接;
7)先通過機(jī)械減薄再通過化學(xué)刻蝕將襯底硅層3去除掉;
8)在二氧化硅絕緣層2上打孔將電極引出,并且蒸鍍透明的導(dǎo)電電極,光刻形成圖形。
所述的二氧化硅絕緣層2的厚度為0.4~1μm,器件硅層1厚度為0.3~1.5μm。
所述的粘接是倒置式單次粘接。
所述的打孔是采用激光打孔的工藝實(shí)現(xiàn)硅片與外界的電氣連接。
所述的IC器件包括薄膜晶體管陣列和周邊驅(qū)動(dòng)控制電路部分。
所述的化學(xué)刻蝕可為濕法刻蝕。
所述的濕法刻蝕是用35%的KOH飽和溶液,刻蝕溫度控制在90℃左右,利用二氧化硅絕緣層作為蝕刻的阻擋層,反應(yīng)自停止,刻蝕速率為3μm/min。
所述的化學(xué)刻蝕還可為等離子干法蝕刻。
所述的等離子干法蝕刻是采用ICP蝕刻機(jī)來蝕刻,并利用二氧化硅絕緣層作為硅蝕刻的阻擋層,完成襯底硅的去除。
本發(fā)明的有益效果是:
利用本發(fā)明的方法制作的透明硅基基板制作的器件,具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、可靠性高、開口率高等優(yōu)點(diǎn)。
本發(fā)明有利于提高光利用率,減小顯示器的尺寸。
利用本發(fā)明的基板制作顯示器時(shí)不需要額外的PBS光學(xué)器件,具有光路簡(jiǎn)單、結(jié)構(gòu)緊湊、體積小、重量輕等優(yōu)勢(shì),同時(shí)也具有硅基液晶集成度高、分辨率高等優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)。
本發(fā)明的應(yīng)用范圍廣,它可以廣泛應(yīng)用于光通信、消費(fèi)類電子等領(lǐng)域,用于全透明的場(chǎng)合,不但具有電學(xué)上面的高集成度和驅(qū)動(dòng)特性,還具有視覺上面的藝術(shù)審美特性。
附圖說明
圖1是本發(fā)明采用的絕緣硅片(SOI)的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是在SOI絕緣硅片上制作的薄膜晶體管CMOS開關(guān)剖面示意圖。
圖3是將CMOS開關(guān)的漏極電極轉(zhuǎn)接到二氧化硅絕緣層上。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





