[發明專利]一種擺片剛度的測試方法有效
| 申請號: | 201110452478.4 | 申請日: | 2011-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN102564862A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 張蘭;趙連元;秦淑斌;劉英;吳艷;袁楓;楊守安;郭琳瑞 | 申請(專利權)人: | 航天科工慣性技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N3/14 | 分類號: | G01N3/14 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100070 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 剛度 測試 方法 | ||
1.一種擺片剛度的測試方法,其特征在于通過以下步驟實現:
第一步,準備剛度測試裝置,
剛度測試裝置包括讀數顯微鏡、工件支架(1)、位移傳感器(7)和數據采集計算機(8),讀數顯微鏡包括顯微鏡支架(2)、顯微鏡目鏡(3)、顯微鏡物鏡(4)、指標線分化板(5)和用來調節指標線分化板上下位置的微分鼓輪(6),指標線分化板(5)連接位移傳感器(7),位移傳感器(7)與數據采集計算機(8)連接;
第二步,將待測剛度的擺片放置在工件支架(1)上,工件支架支撐在擺片的外環(12)上,工件支架不能遮擋在讀數顯微鏡和待測剛度的擺片之間,調整工件支架,使擺片的擺軸方向(9)垂直向下,令檢測質量塊(11)繞撓性支撐(10)自然下垂;
第三步,調節讀數顯微鏡,
調節讀數顯微鏡目鏡(3)的視度環,使指標線分化板(5)的十字刻線清晰的出現在視場中,調節顯微鏡支架(2),使讀數顯微鏡聚焦于待測剛度的擺片,使待測剛度的擺片的影像清晰的出現在指標線分化板(5)上;
第四步,獲得檢測質量塊相對基準位置的下垂量Δd,
A4.1、利用微分鼓輪(6)調節指標線分化板(5)十字刻線交點的位置,令十字刻線的交點對準待測剛度的擺片上的基準位置(14),數據采集計算機(8)采集此狀態下位移傳感器(7)的數據d1,所述待測剛度的擺片上的基準位置(14)為外環(12)的下沿;
A4.2、利用微分鼓輪(6)調節指標線分化板(5)十字刻線交點的位置,令十字刻線的交點對準檢測質量塊(11)上的測量位置(13),數據采集計算機(8)采集此狀態下位移傳感器(7)的數據d2,所述檢測質量塊(11)上的測量位置(13)為檢測質量塊(11)自然下垂后的最低點;
A4.3、數據采集計算機(8)根據Δd=d2-d1獲得檢測質量塊相對基準位置的下垂量Δd;
第五步,利用第四步得到檢測質量塊相對基準位置的下垂量Δd,通過公式得到檢測質量塊在自重下的轉角θ,其中R為檢測質量塊上的測量位置與撓性支撐根部的距離;
第六步,利用第五步得到的檢測質量塊在自重下的轉角θ,通過公式得到待測剛度的擺片的剛度K,其中L為檢測質量塊重心與撓性支撐的距離,mg為檢測質量塊的重量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于航天科工慣性技術有限公司,未經航天科工慣性技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110452478.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種測量地球反照輻射照度的方法
- 下一篇:取代亞砜化合物的合成方法





