[發(fā)明專利]滯環(huán)比較控制方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110452199.8
• 申請日: 2011-12-29
• 公開（公告）號: CN103186152A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 肖來亮;曾宇;鄧林旺
• 申請（專利權(quán)）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G05F1/46
• 分類號: G05F1/46
• 代理公司: 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 江娟;南毅寧

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種滯環(huán)比較控制方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)今，硬件調(diào)理電路絕大部分都會有濾波電路以防止外部噪聲等對設(shè)備的采樣造成干擾，這樣的硬件電路必然會帶來硬件延時，并且通帶的寬度越窄，硬件延時會越長(雖然效果越好)。另外，由于AD采樣頻率和AD轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時間，必然也會帶來一定的延時。這樣，硬件電路延時和AD采樣器轉(zhuǎn)換延時，勢必會采集不到當時的瞬時值，而只能采集到上一個時刻的值，在使用滯環(huán)比較方法時，會導(dǎo)致滯環(huán)寬度太大，硬件濾波更難，而濾波所導(dǎo)致的損耗也必然會更大。

目前的滯環(huán)比較控制方法原理主要是實際電流與指令電流I_ref的上限閾值和下限閾值相比較，交點做為開關(guān)點，在電流上升時，實際電流只要超過指令電流I_ref的上限閾值Ih時，開關(guān)就立即動作，使電流下降；而當電流下降時，實際電流只要超過指令電流I_ref的下限閾值Il時，開關(guān)就立即動作，使實際電流上升；通過設(shè)定指令電流I_ref的上限閾值Ih和下限閾值Il(即設(shè)定滯環(huán)寬度W)來控制實際電流和指令電流I_ref的差值，這樣的控制方法可以很好的跟蹤指令電流I_ref(或電壓)，得到了廣泛的應(yīng)用。但是這種方法需要采樣沒有延時的情況下，只要實際電流超過指令電流I_ref的上限閾值和下限閾值開關(guān)就立即動作，可以很好地把實際電流和指令電流I_ref限定在設(shè)定的滯環(huán)寬度內(nèi)。一旦有采樣延時，必然會比設(shè)定的上限閾值Ih和下限閾值Il的寬度更大。

為了方便闡述，現(xiàn)在簡單地以跟蹤直流電流為例(對于跟蹤直流電壓、交流電壓或交流電流也同樣適用)。圖1為傳統(tǒng)的滯環(huán)比較控制方法的原理圖。粗線表示指令電流I_ref，細線表示實際電流。A0到A1、A1到A2、A2到A3等之間的時間長度為一個采樣周期T(設(shè)定滯環(huán)比較周期也為T，即每次采樣完成后，立即進行滯環(huán)比較)，參考電平V0為0電平，初始狀態(tài)實際電流為0。設(shè)定采樣延時為2個采樣周期(實際電路中延時可能會比這個更大)，即在A2時刻(A0以前都為0電平，不再描述)，檢測到的電流值實際上是A0時刻的電流值，而A3時刻檢測到的電流值實際上是A1時刻的電流值，依此類推，所以，在A2時刻，采樣得到的電流值I(即A0時刻的電流值)小于指令電流I_ref的上限，此時，必須讓實際電流上升才能跟蹤到指令電流I_ref；在A3時刻，檢測到的電流值I(即A1時刻的電流值)小于指令電流I_ref的上限閾值，讓電流上升；......在A9時刻，采樣得到的電流值I(即A7時刻的電流值)小于指令電流I_ref的上限閾值，繼續(xù)讓電流I上升；在A10時刻，采樣得到的電流值I(即A8時刻的電流值)大于指令電流I_ref的上限閾值，那么，開關(guān)立即動作，必須讓電流下降才能跟蹤到指令電流I_ref。同理，在電流下降時，到A18時刻采樣到的電流值才小于指令電流I_ref的下限閾值，開關(guān)才開始動作，讓電流上升。

從此我們可以看出，等到A10時刻才得到實際跟蹤電流值比指令電流I_ref的上限閾值大，此時才讓實際電流下降，實際上如果不存在任何延時的話，在A8時刻電流已經(jīng)比指令電流I_ref上限閾值大，此時應(yīng)該讓實際電流下降，但是，因為延時在A10的時刻才檢測到。所以，正因為有這兩個采樣周期的延時，使得在A10時刻才得到實際跟蹤電流的值大于指令電流I_ref的上限，這已經(jīng)遠遠超過了指令電流I_ref上限值；同理，在電流下降時，因為延時要到A18時刻才得到實際跟蹤電流小于指令電流Iref的下限，才使開關(guān)動作，讓電流上升，這時已遠遠超過指令電流I_ref的下限值。從上述描述和圖1可以看出，實際滯環(huán)寬度W’遠大于設(shè)定的滯環(huán)寬度W。這里只假設(shè)了2個采樣周期的延時，實際電路中可能有比2個采樣周期更長的延時，那么，實際的滯環(huán)寬度會更大。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種滯環(huán)比較控制方法，以用于有效解決因采樣延時而導(dǎo)致滯環(huán)寬度增大的問題。