[發(fā)明專利]剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110452026.6 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102520379A | 公開(公告)日: | 2012-06-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 方以坤;郭朝暉;朱明剛;李衛(wèi);周棟;潘偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鋼鐵研究總院 |
| 主分類號(hào): | G01R33/12 | 分類號(hào): | G01R33/12 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 張軍 |
| 地址: | 100081 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 剩磁 溫度 系數(shù) 檢測(cè) 設(shè)備 方法 | ||
1.一種剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備包括待測(cè)試樣旋轉(zhuǎn)裝置、溫度控制裝置、磁通量檢測(cè)裝置和剩磁溫度系數(shù)計(jì)算裝置,其中:
待測(cè)試樣旋轉(zhuǎn)裝置被構(gòu)造為使待測(cè)試樣旋轉(zhuǎn);
溫度控制裝置被構(gòu)造為改變并穩(wěn)定地保持待測(cè)試樣的溫度;
磁通量檢測(cè)裝置被構(gòu)造為在待測(cè)試樣旋轉(zhuǎn)的同時(shí)檢測(cè)因不同溫度的待測(cè)試樣的不同的磁場(chǎng)而產(chǎn)生的不同的磁通量;
剩磁溫度系數(shù)計(jì)算裝置被構(gòu)造為根據(jù)從磁通量檢測(cè)裝置檢測(cè)到的與不同的溫度對(duì)應(yīng)的不同的磁通量來(lái)計(jì)算待測(cè)試樣的剩磁溫度系數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,待測(cè)試樣旋轉(zhuǎn)裝置包括連接桿、步進(jìn)電機(jī)和步進(jìn)電機(jī)控制器,其中:
連接桿被構(gòu)造為將待測(cè)試樣固定地設(shè)置在連接桿的端部;
步進(jìn)電機(jī)被構(gòu)造為連接到連接桿,以旋轉(zhuǎn)連接桿,從而使連接到連接桿的端部的待測(cè)試樣旋轉(zhuǎn);
步進(jìn)電機(jī)控制器連接到步進(jìn)電機(jī),以控制步進(jìn)電機(jī)的操作。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,溫度控制裝置包括加熱爐體、溫度控制器和溫度檢測(cè)器,其中:
加熱爐體包括加熱空間,加熱爐體被構(gòu)造為加熱放置在加熱空間中的待測(cè)試樣,在待測(cè)試樣旋轉(zhuǎn)裝置的驅(qū)動(dòng)下,待測(cè)試樣在加熱空間中旋轉(zhuǎn);
溫度控制器連接到加熱爐體,以控制加熱爐體的加熱操作,從而改變并穩(wěn)定地保持待測(cè)試樣的溫度;
溫度檢測(cè)器被構(gòu)造為檢測(cè)待測(cè)試樣的溫度,并將檢測(cè)到的待測(cè)試樣的溫度發(fā)送到剩磁溫度系數(shù)計(jì)算裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,磁通量檢測(cè)裝置包括檢測(cè)線圈和積分器,其中:
檢測(cè)線圈被構(gòu)造為纏繞方向與待測(cè)試樣的磁化方向垂直,從而在檢測(cè)線圈中得到待測(cè)試樣的磁場(chǎng)的磁通量;
積分器連接到檢測(cè)線圈,在待測(cè)試樣繞沿與磁化方向垂直的方向的旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)時(shí),積分器檢測(cè)在檢測(cè)線圈中得到的磁通量,并將檢測(cè)到的待測(cè)試樣的磁通量發(fā)送到剩磁溫度系數(shù)計(jì)算裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,檢測(cè)線圈被構(gòu)造為亥姆霍茲線圈。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的剩磁溫度系數(shù)檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,待測(cè)試樣具有圓柱體的形狀,待測(cè)試樣的磁化方向與待測(cè)試樣的中心軸的方向平行,積分器在待測(cè)試樣以檢測(cè)線圈的中心軸與待測(cè)試樣的中心軸共面的方式從預(yù)定姿態(tài)開始旋轉(zhuǎn)的過(guò)程中檢測(cè)檢測(cè)線圈中的磁通量,其中,所述預(yù)定姿態(tài)是待測(cè)試樣的中心軸與檢測(cè)線圈的中心軸同軸時(shí)待測(cè)試樣所處的姿態(tài)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于鋼鐵研究總院,未經(jīng)鋼鐵研究總院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110452026.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 控制溫度/濕度或溫度的方法及控制溫度/濕度或溫度的裝置
- 藍(lán)牙雙溫度燒烤溫度儀
- 配對(duì)溫度計(jì)溫度確定
- 溫度控制裝置、溫度調(diào)節(jié)系統(tǒng)和溫度控制方法
- 溫度計(jì)、溫度檢測(cè)單元、溫度檢測(cè)裝置以及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度探測(cè)頭、溫度探測(cè)設(shè)備和溫度探測(cè)方法
- 溫度檢測(cè)方法、溫度檢測(cè)裝置和溫度檢測(cè)設(shè)備
- 溫度貼片及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度貼片及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度監(jiān)控設(shè)備、溫度監(jiān)控方法和溫度監(jiān)控系統(tǒng)
- 生成系數(shù)類型數(shù)據(jù)或系數(shù)數(shù)據(jù)的裝置、方法
- 串?dāng)_系數(shù)估計(jì)裝置和串?dāng)_系數(shù)估計(jì)方法
- 排放系數(shù)計(jì)算器與排放系數(shù)計(jì)算方法
- 摩擦系數(shù)估計(jì)設(shè)備和摩擦系數(shù)估計(jì)方法
- 吸隔音系數(shù)試樣及阻尼系數(shù)試樣取樣裝置
- 用于系數(shù)掃描的系數(shù)群及系數(shù)譯碼
- 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量裝置以及導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量方法
- 一種PID參數(shù)自整定方法
- 變換系數(shù)計(jì)算裝置、變換系數(shù)計(jì)算方法及變換系數(shù)計(jì)算程序
- 導(dǎo)熱系數(shù)儀
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





