[發明專利]一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置

無效

• 申請號: 201110451153.4
• 申請日: 2011-12-22
• 公開（公告）號: CN103175624A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 梁培;楊松濤;徐定科;周燕飛;黃杰;王樂
• 申請（專利權）人: 中國計量學院
• 主分類號: G01K11/00
• 分類號: G01K11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述測試方法是首先將LED陣列放入恒溫箱中，使用恒流源驅動LED陣列發光，調節恒溫箱設定溫度，通過載有成像鏡頭的CMOS工業相機采集所設定不同溫度下LED陣列圖像，并將圖像傳送給PC機，利用LabVIEW軟件對采集到的圖像進行圖像處理和相對輻射強度計算得到對應溫度的LED相對輻射強度，經擬合，定標得到LED結溫與相對輻射強度的分布關系，并將該關系應用于非接觸式LED結溫測試裝置。

2.根據權利要求1所述的一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述的結溫測試方法中恒溫箱溫度控制精度為±1℃。

3.根據權利要求1所述的一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述的結溫測試方法中相對輻射強度值以采集得到的灰度圖像中的每個LED區域灰度值的平均值作為所對應單個LED的相對輻射強度值。

4.根據權利要求1所述的一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述的結溫測試方法中每一溫度的LED相對輻射強度由該溫度下LED陣列中每個LED的相對輻射強度的平均值表示。

5.根據權利要求1所述的一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述的結溫測試方法中圖像處理包括圖像分割、邊緣檢測，得到每個LED等大的區域。

6.根據權利要求1所述的一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述的結溫測試方法中相對輻射強度計算包括對圖像處理后的每個LED等大的區域進行計算，獲得每個區域灰度值的平均值作為所對應單個LED的相對輻射強度，再對LED陣列中每個LED的相對輻射強度求和后取平均值，作為對應溫度下LED的相對輻射強度。

7.根據權利要求1所述的一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述的測試裝置包括：載有成像鏡頭的CMOS工業相機和圖像處理系統。

8.根據權利要求7所述一種非接觸式LED結溫測試方法及裝置，其特征在于：所述的成像鏡頭為固定焦距。