[發明專利]干涉式高密度圓光柵偏心檢測裝置無效
| 申請號: | 201110451038.7 | 申請日: | 2011-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN102564308A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 艾華;曹艷波 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/27 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 南小平 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 干涉 高密度 圓光 偏心 檢測 裝置 | ||
1.干涉式高密度圓光柵偏心檢測裝置,其特征在于,該檢測裝置包括一號激光器(1)、一號準直鏡(2)、副光柵盤(4)、一號光電接收器(5)、二號光電接收器(6)、二號準直鏡(7)、二號激光器(8)、主軸(9)、軸套(10)、光柵連接座(11)和示波器;待檢測的主光柵盤(3)固定在主軸(9)的平臺上,副光柵盤(4)固定在光柵連接座(11)上;光柵連接座(11)固定在軸套(10)上,光柵連接座(11)與軸套(10)同軸;軸套(10)與主軸(9)同軸,通過軸承動連接;副光柵盤(4)與主軸(9)通過光柵連接座(11)和軸套(10)實現同軸;一號激光器(1)與二號激光器(8)、以及一號準直鏡(2)與二號準直鏡(7)分別對徑安裝于主光柵盤(3)下面的軸套位置,并呈軸心對稱;一號光電接收器(5)和二號光電接收器(6)分別置于副光柵盤(4)的上方;示波器分別與一號光電接收器(5)和二號光電接收器(6)連接;一號激光器(1)發出的激光經過一號準直鏡(2)后變為平行光,垂直入射到主光柵盤(3)中,經過主光柵盤(3)的一次衍射和副光柵盤(4)的二次衍射后,產生干涉條紋,干涉條紋經過一號光電接收器(5)轉換為電信號后,由示波器接收,得到主光柵盤(3)的位移正弦信號;二號激光器(8)發出的激光經過二號準直鏡(7)后變為平行光,垂直入射到主光柵盤(3)中,經過主光柵盤(3)的一次衍射和副光柵盤(4)的二次衍射后,產生干涉條紋,干涉條紋經過二號光電接收器(6)轉換為電信號后,由示波器接收,得到主光柵盤(3)的位移正弦信號;根據示波器中不同相位正弦信號的合成,能夠得出主光柵盤(3)的偏心位置和偏心量。
2.如權利要求1所述的干涉式高密度圓光柵偏心檢測裝置,其特征在于,所述主光柵盤(3)和副光柵盤(4)的光柵柵距相同,二者的安裝間距δ為毫米數量級。
3.如權利要求1所述的干涉式高密度圓光柵偏心檢測裝置,其特征在于,所述一號激光器(1)與二號激光器(8)發出的激光均為單色光,其波長為380nm~800nm。
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