[發明專利]基于支持向量機的圖像反饋方法及系統有效
| 申請號: | 201110449087.7 | 申請日: | 2011-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN102542050A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發明(設計)人: | 王向陽;李東明 | 申請(專利權)人: | 遼寧師范大學 |
| 主分類號: | G06F17/30 | 分類號: | G06F17/30;G06K9/62 |
| 代理公司: | 大連東方專利代理有限責任公司 21212 | 代理人: | 李馨 |
| 地址: | 116029 遼寧*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 支持 向量 圖像 反饋 方法 系統 | ||
1.一種基于支持向量機的圖像反饋方法,其特征在于包括以下步驟:
S1:提取圖像庫中每幅圖像的底層視覺特征,并將提取的底層視覺特征放入特征庫;
S2:調取用戶在圖像庫中選取的示例圖像,利用特征庫查找圖像庫中與該示例圖像最相似的N幅圖像;
S3:將N幅圖像標記為正例圖像和反例圖像,形成正例圖像集和反例圖像集;
S4:對正例圖像集和反例圖像集進行擴展和更新后,將正例圖像集和反例圖像集中的圖像放入支持向量機中進行訓練,輸出訓練結果。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于當底層視覺特征是顏色特征時,步驟S1又包括以下步驟:將RGB顏色空間轉換到HSV空間;將HSV顏色空間量化成64份;統計落在每一份顏色空間中像素點的個數作為顏色特征;
當底層視覺特征是紋理特征時,步驟S1又包括以下步驟:對圖像進行3級小波變換;計算每級變換后的3個子帶的均值和方差作為紋理特征。
當底層視覺特征是形狀特征時,步驟S1又包括以下步驟:用Sobel算子提取圖像邊緣點;統計圖像邊緣點在水平、45度、垂直、135度方向的像素點個數作為形狀特征。
3.根據權利要求1所述的,其特征在于利用特征庫查找圖像庫中與該示例圖像最相似的N幅圖像的步驟又包括以下步驟:
計算示例圖像的底層視覺特征;
應用歐式距離算法計算示例圖像的底層視覺特征與圖像庫中每一圖像的相似度;
將全部相似度由高到低排序,并將排序在前的N幅圖像作為與該示例圖像最相似的N幅圖像。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于應用歐式距離算法計算示例圖像的底層視覺特征與圖像庫中每一圖像的相似度又可以表示為:
Si,j=exp(-|xi-xj|2)
其中,Si,j是示例圖像xi與圖像庫中每一圖像xj的相似度。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于步驟S3包括以下步驟:將N幅圖像中與示例圖像屬于同一語義類的圖像標記為正例圖像,將N幅圖像中與示例圖像不屬于同一語義類的圖像標記為反例圖像。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于對正例圖像集和反例圖像集進行擴展的步驟又包括以下步驟:
從圖像庫中未標記的圖像中,選取相似度排序在前的若干幅圖像作為正例圖像加入正例圖像集;
從圖像庫中未標記的圖像中,選取相似度排序在后的若干幅圖像作為反例圖像加入反例圖像集,從而增加了總的訓練樣本圖像的數量。
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