[發明專利]一種脫扣器嵌入式軟件的檢測方法

無效

• 申請號: 201110446999.9
• 申請日: 2011-12-28
• 公開（公告）號: CN103186454A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 王蕾;孟艷;樸希望;李世群;靜國鑰
• 申請（專利權）人: 上海市軟件評測中心有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 翁若瑩

技術領域

本發明涉及一種脫扣器嵌入式軟件的檢測方法。

背景技術

隨著智能電網技術發展，電網對配電裝置的要求亦越來越高，帶有嵌入式軟件的智能脫扣器使傳統斷路器實現了對其保護、報警、測量、通信等功能的智能保護、遠程控制和集中管理，并具有遙測、遙控、遙信和遙調等功能，因此獲得了廣泛應用。脫扣器的嵌入式操作執行軟件主要用于實現低壓電器數據的采集和基本處理、傳統的低壓電器保護功能、與外部斷路器的區域聯鎖、一些對實時性要求較高的控制。同時斷路器執行部分還可通過SPI通信（串行外圍設備接口），實時不間斷地把檢測參數、執行結果傳送給斷路器管理部分。新一代脫扣器的嵌入式軟件具有精確的保護功能及完善的故障診斷能力和穩定的通信功能，有效克服了傳統軟件設計的實時性差、代碼結構復雜、可移植性差和功能不完善的缺點。

目前，大多斷路器生產廠家對脫扣器產品的測試，只有針對觸發、漏電、持續性電流增長、輔助開關以及電壓、電流精度等功能方面的測試內容，缺乏單獨針對脫扣器內部嵌入式軟件進行的測試、評定方法，一旦所設計的嵌入式軟件出錯，將造成不可預料的后果。對嵌入式軟件的測試、評定，通常采用白盒測試和/或黑盒測試的方法，傳統測試流程如圖1所示。

由該圖可見，傳統的軟件測試程序，從測試階段開始進行的白盒測試和/或黑盒測試方法，不考慮針對特殊軟件產品的技術要求，只提供標準的可執行測試軟件，通常需要較多的時間和資金方能完成全過程。

發明內容

本發明的目的是提供一種針對脫扣器嵌入式軟件，操作簡單、可標準化的測試方法，用以降低軟件檢測的周期和成本，提高軟件檢測判定的一致性。

為了達到上述目的，本發明的技術方案是提供了一種脫扣器嵌入式軟件的檢測方法，步驟為：

步驟1、完成源代碼后，在開發測試環境下對源代碼進行測試，其特征在于：

步驟2、利用脫扣器代碼規則集對源代碼進行代碼規則掃描；

步驟3、在對源代碼進行靜態結構分析后，利用脫扣器代碼質量度量元集對源代碼進行質量度量，在質量度量后編譯生成可執行軟件；

步驟4、對可執行軟件進行軟件插樁編譯后在開發環境中進行單元/集成測試，測試通過后進入步驟5，若不通過，則發送不合格報告；

步驟5、進行硬件插樁編譯，將編譯后的源程序下載到目標機中，隨后進入步驟6；

步驟6、進行系統測試，若通過，則發送合格報告，若不通過，則發送不合格報告。

優選地，所述步驟4中的開發環境的單元/集成測試及所述步驟6的系統測試需滿足脫扣器軟件覆蓋率要求。

優選地，所述步驟4中的開發環境的單元/集成測試及所述步驟6的系統測試需滿足脫扣器軟件性能要求。

優選地，所述步驟4中的開發環境的單元/集成測試及所述步驟6的系統測試需滿足脫扣器軟件內存使用要求。

本發明針對脫扣器嵌入式軟件設計了一種專用的測試流程，由于充分考慮了脫扣器軟件的功能實現、代碼的標準化、規范化、質量控制等因素，有效解決了現有技術存在的缺陷。

本發明提供的方案，在于對編碼階段的測試進行了充分的細化，增加了對脫扣器代碼規則集和代碼質量度量元集做相應的預處理環節；同時在下載到目標機以及系統測試兩個環節前，對脫扣器嵌入式軟件的覆蓋率、軟件性能、內存使用要求做相應處理，大大減少了測試時間，由于有了預案，在發現問題時，對測試人員的應急處理能力要求也大大降低。

本發明具有如下優點：?

1、結合行業特點形成脫扣器代碼規則集，在編碼階段進行代碼規則檢查，可以盡早的發現缺陷，減少修復解決問題所花費的成本，同時縮短對軟件的測試時間，從而加快整個產品投放市場的周期。

2、對代碼進行靜態結構分析，可以更清楚的看到整個程序的流程圖，可以方便評估軟件開發是否與設計、需求相匹配。

3、結合行業特點，制定脫扣器度量元集，應用該度量元集對代碼進行質量度量，可以增強代碼的可維護性、可讀性，更好地控制代碼的質量。

4、在單元/集成測試階段，根據事先制定的行業代碼測試覆蓋率要求、行業軟件性能要求和內存使用要求標準對源代碼進行測試，使得代碼在符合功能要求的同時，性能更加優化，內存使用合理，避免因為不當的內存使用方式造成內存泄漏等潛在問題。

5、在系統測試階段，把代碼下載到真正的載體中，在特定的環境下根據事先制定的行業代碼測試覆蓋率要求、行業軟件性能要求和內存使用要求標準進行測試，可以全面衡量整個軟件的質量。

附圖說明

圖1為傳統測試流程；