[發(fā)明專利]常溫常壓表面輔助激光解吸附質(zhì)譜的高靈敏度檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110444632.3 | 申請日： | 2011-12-27 |
| 公開（公告）號： | CN102539515A | 公開（公告）日： | 2012-07-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 劉虎威;張佳玲;周志貴;栗則;馮鮑盛;白玉 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京大學(xué) |
| 主分類號： | G01N27/64 | 分類號： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 北京萬象新悅知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11360 | 代理人： | 賈曉玲 |
| 地址： | 100871*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 常溫 常壓 表面 輔助 激光 解吸 附質(zhì)譜 靈敏度 檢測 方法 | ||
1.一種激光解吸附質(zhì)譜的檢測方法，具體包括：
1)在濾紙任意表面涂覆一層石墨層，利用毛細(xì)管將液體樣品點(diǎn)在石墨層表面；
2)將上述涂好樣品的濾紙固定在三維移動平臺；
3)利用激光解吸附質(zhì)譜裝置對濾紙表面的分析物進(jìn)行檢測。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟1)中，在濾紙表面用鉛筆輕輕涂覆一層石墨層。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟3)中，所述激光解吸附質(zhì)譜裝置包括：實(shí)時直接分析離子源、三波長脈沖激光器和質(zhì)譜質(zhì)量檢測器，其中，三波長脈沖激光器，用于將吸附在石墨表面的樣品分子解吸附為氣相樣品分子；實(shí)時直接分析離子源，用于產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)的氦原子，氦原子與空氣中的水分子作用產(chǎn)生水分子離子，繼而水分子離子與氣相樣品分子之間發(fā)生質(zhì)子交換，隨后進(jìn)入質(zhì)譜質(zhì)量檢測器進(jìn)行檢測。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，實(shí)時直接分析離子源出口與質(zhì)譜質(zhì)量檢測器接口在同一直線，三維移動平臺位于該直線下方3～5mm。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述質(zhì)譜質(zhì)量檢測器為安捷倫離子阱質(zhì)譜檢測器。
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