[發(fā)明專利]調(diào)整電子設備重心位置的方法以及電子設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110442582.5
• 申請日: 2011-12-26
• 公開（公告）號: CN103176478A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設計）人: 紀大為
• 申請（專利權）人: 聯(lián)想（北京）有限公司
• 主分類號: G05D3/00
• 分類號: G05D3/00
• 代理公司: 北京同達信恒知識產(chǎn)權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種調(diào)整電子設備重心位置的方法，應用于電子設備中，所述電子設備包括抗撞擊部位和一傳感器，所述電子設備重心處于相對于所述電子設備的第一重心位置，其特征在于，所述方法包括：

通過所述傳感器獲得一參數(shù)值，所述參數(shù)值為所述電子設備處于運動狀態(tài)時所述傳感器所采集的參數(shù)值；

判斷所述參數(shù)值是否滿足預定條件，產(chǎn)生一判斷信息；所述預定條件用于判斷所述電子設備是否會與一接觸面發(fā)生碰撞；

當所述判斷信息表示所述參數(shù)信息滿足所述預定條件時，調(diào)整所述電子設備的重心從處于相對于所述電子設備的所述第一重心位置至第二重心位置，以使所述電子設備的抗撞擊部位與所述接觸面發(fā)生碰撞。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述當所述判斷信息表示所述參數(shù)信息滿足所述預定條件時，調(diào)整所述電子設備的重心從處于相對于所述電子設備的所述第一重心位置至第二重心位置，具體包括：

當判斷信息表示所述參數(shù)信息滿足所述預定條件時，獲得一重心調(diào)整指令；

基于所述重心調(diào)整指令，調(diào)整所述電子設備的重心從處于相對于所述電子設備的所述第一重心位置至第二重心位置。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述當判斷信息表示所述參數(shù)信息滿足所述預定條件時，獲得一重心調(diào)整指令，具體包括：

判斷所述第一重心位置對應的抗撞擊部位是否能與所述接觸面接觸；

如果否，獲得所述重心調(diào)整指令，用于調(diào)整所述電子設備的重心從處于相對于所述電子設備的所述第一重心位置至第二重心位置，以使所述電子設備的抗撞擊部位與所述接觸面發(fā)生碰撞。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述參數(shù)值為加速度。

5.如權利要求2-4任一項所述的方法，其特征在于，所述調(diào)整所述電子設備的重心從處于相對于所述電子設備的所述第一重心位置至第二重心位置，具體為：

將所述電子設備內(nèi)的一移動體從第一位置移動至第二位置，以使所述調(diào)整所述電子設備的重心從處于相對于所述電子設備的所述第一重心位置至第二重心位置。

6.一種調(diào)整重心位置的方法，應用在電子設備中，所述電子設備包括一傳感器和一移動部件，當所述移動部件位于第一位置時，所述電子設備的重心位置為第一重心位置，其特征在于，所述方法包括：

當所述移動部件位于所述第一位置時，通過所述傳感器獲得所述電子設備在T1時刻的第一參數(shù)值以及通過所述傳感器獲得所述電子設備在T2時刻的第二參數(shù)值；

判斷所述第一參數(shù)值和所述第二參數(shù)值是否有變化，產(chǎn)生一判斷結果；

當所述判斷結果表示所述第一參數(shù)值與所述第二參數(shù)值有變化時，控制所述移動部件從所述第一位置移動到第二位置，使得將所述電子設備的重心位置從所述第一重心位置調(diào)整到第二重心位置，其中，所述第一位置與所述第二位置不同，所述第一重心位置與所述第二重心位置不同。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，當所述移動部件位于第一位置時，所述電子設備與另一設備有第一接觸點。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一參數(shù)值具體為：

用于表示所述第一重心位置與所述第一接觸點在T1時刻的相對位置的參數(shù)值。

9.如權利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述第二參數(shù)值具體為：

用于表示所述第一重心位置與所述第一接觸點在T2時刻的相對位置的參數(shù)值。

10.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述控制所述移動部件從所述第一位置移動到第二位置，具體為：

采用一電磁鐵移位裝置，控制所述移動部件從所述第一位置移動到所述第二位置。