[發明專利]型胚壁厚控制系統及方法無效
| 申請號: | 201110442358.6 | 申請日: | 2011-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN102490349A | 公開(公告)日: | 2012-06-13 |
| 發明(設計)人: | 周筱龍 | 申請(專利權)人: | 寧波弘訊科技股份有限公司 |
| 主分類號: | B29C49/78 | 分類號: | B29C49/78 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯長明 |
| 地址: | 315000 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 型胚壁厚 控制系統 方法 | ||
1.一種型胚壁厚控制系統,其特征在于,包括:非線性控制器、線性位移傳感器和執行機構,其中,
所述線性位移傳感器,用于測量所述模芯間隙值,并作為型胚壁厚反饋值反饋給所述非線性控制器;
所述非線性控制器查詢由貝塞爾曲線分割插值法得到的型胚壁厚軸向分布曲線,得到此時型胚壁厚設定值,且比較該型胚壁厚設定值及所述型胚壁厚反饋值,輸出相應的控制信號;
所述執行機構與所述非線性控制器相連,用于根據接收到的所述控制信號,控制所述型胚壁厚反饋值與所述型胚壁厚設定值間的差值在預設范圍內。
2.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述非線性控制器為非線性比例-微分控制器,包括:壁厚軸向分布曲線單元、比例控制器、第一濾波器、微分控制器及限幅輸出單元,其中:
所述壁厚軸向分布曲線單元,用于存儲所述型胚的壁厚設定值;
所述比例控制器對所述型胚的壁厚設定值與所述型胚壁厚反饋值之間的差值進行比例運算,得到所述型胚壁厚誤差;
所述第一濾波器,用于將接收到的所述型胚壁厚反饋值進行高通濾波,得到高通濾波后的型胚壁厚反饋值,并提供給所述微分控制器;
所述微分控制器,用于將所述高通濾波后的型胚壁厚反饋值進行微分運算,得到第一型胚壁厚反饋值,并與所述型胚壁厚誤差進行疊加,得到控制信息,并提供給所述限幅輸出單元;
所述限幅輸出單元,用于根據接收到的所述控制信息,產生幅值在預設范圍內的控制信號。
3.根據權利要求2所述的系統,其特征在于,所述非線性控制器還包括第二濾波器,用于濾除所述型胚壁厚反饋值中的干擾信號。
4.根據權利要求2所述的系統,其特征在于,所述非線性控制器還包括:
與所述型胚壁厚分布曲線單元相連的模式選擇單元,用于選擇所述型胚壁厚控制系統的工作模式,該工作模式包括:連續式壁厚控制模式和儲料式壁厚控制模式。
5.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述執行機構為電液伺服系統,所述電液伺服系統包括:比例伺服閥及液壓油缸,其中:
所述比例伺服閥接收所述非線性控制器輸出的控制信號,控制所述液壓油缸中的活塞的位置,以使模芯間隙值與所述型胚壁厚設定值間的差值在預設范圍內。
6.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述非線性控制器為可編程邏輯控制器。
7.一種型胚壁厚控制方法,其特征在于,包括:
根據貝塞爾曲線分割插值算法得到型胚壁厚軸向變化曲線;
獲取模芯縫隙間隙值,作為型胚壁厚反饋值;
比較由所述型胚壁厚軸向變化曲線得到的壁厚設定值與所述型胚壁厚反饋值,得到型胚壁厚誤差,并對該型胚壁厚誤差進行非線性控制,輸出控制信號,控制所述模芯間隙值與所述壁厚設定值間的差值在預設范圍內。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述比較所述壁厚設定值與所述型胚壁厚反饋值,進行非線性控制,輸出控制信號的過程,具體為:
對所述壁厚設定值與所述型胚壁厚反饋值之間的差值進行比例運算,得到型胚壁厚誤差;
對所述型胚壁厚反饋值進行高通濾波,得到高通濾波后的型胚壁厚反饋值;
對所述高通濾波后的型胚壁厚反饋值進行微分運算,得到第一型胚壁厚反饋值;
將所述型胚壁厚誤差與所述第一型胚壁厚反饋值進行疊加,得到誤差控制信息;
對所述誤差控制信息進行限幅輸出,得到電壓值在預設范圍內的控制信號。
9.根據權利要求8所述的方法,其特征在于,還包括:濾除所述型胚壁厚反饋值中的干擾信號。
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