[發(fā)明專利]結(jié)合空間分布和全局對(duì)比的顯著區(qū)域檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110442240.3
• 申請(qǐng)日: 2011-12-26
• 公開（公告）號(hào): CN102542267A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 牛夏牧;賀欣;景慧昀;李瓊;韓琦
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): G06K9/32
• 分類號(hào): G06K9/32
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 牟永林

1.一種結(jié)合空間分布和全局對(duì)比的顯著區(qū)域檢測(cè)方法，其特征在于：它包括以下步驟：

步驟一：將輸入圖像按照graph-cut圖像分割方法進(jìn)行分割，獲得N個(gè)子圖像區(qū)域，N為大于或者等于2的整數(shù)；

步驟二：計(jì)算每個(gè)子圖像區(qū)域r_k的空間分布顯著值S_sd(r_k)，k表示子圖像區(qū)域的序號(hào)，取值從1至N；

步驟三：計(jì)算每個(gè)子圖像區(qū)域r_k的全局對(duì)比顯著值S_rc(r_k)；

步驟四：根據(jù)步驟二和步驟三中獲得的空間分布顯著值S_sd(r_k)和全局對(duì)比顯著值S_rc(r_k)，計(jì)算獲得子圖像區(qū)域r_k的顯著值S(r_k)；

步驟五：將N個(gè)子圖像區(qū)域的顯著值S(r_k)按照從高到低的順序進(jìn)行標(biāo)記，得到輸入圖像的顯著區(qū)域，完成輸入圖像的顯著區(qū)域檢測(cè)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)合空間分布和全局對(duì)比的顯著區(qū)域檢測(cè)方法，其特征在于：

所述步驟二中計(jì)算每個(gè)子圖像區(qū)域r_k的空間分布顯著值S_sd(r_k)的具體方法為：

首先，計(jì)算子圖像區(qū)域r_k內(nèi)所有像素點(diǎn)的坐標(biāo)的x分量均值和y分量均值

xrk‾=Σi=1MxrkiM,]]>

yrk‾=Σi=1MyrkiM,]]>

式中M為子圖像區(qū)域r_k內(nèi)像素點(diǎn)的總數(shù)，為子圖像區(qū)域r_k內(nèi)第i個(gè)像素點(diǎn)的坐標(biāo)的x分量，為子圖像區(qū)域r_k內(nèi)第i個(gè)像素點(diǎn)的坐標(biāo)的y分量，

然后，再根據(jù)x分量均值和y分量均值計(jì)算對(duì)應(yīng)的x分量方差和y分量方差

δxrk=Σi=1M(xrki-xrk‾)2M,]]>

δyrk=Σi=1M(yrki-yrk‾)2M;]]>

最后，根據(jù)x分量方差和y分量方差計(jì)算獲得空間分布顯著值S_sd(r_k)：

Ssd(rk)=1δxrk+δyrk=MΣi=1M((xrki-xrk‾)2+(yrki-yrk‾)2).]]>