[發明專利]開爾文測試載片臺

有效

• 申請號: 201110441647.4
• 申請日: 2011-12-26
• 公開（公告）號: CN102565468A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 戴勝強;李子科;張新玲;田凱
• 申請（專利權）人: 天津中環半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 天津中環專利商標代理有限公司 12105
• 代理人: 莫琪

1.一種開爾文測試載片臺，包括圓盤狀絕緣載片本體，其特征在于：在圓盤狀絕緣載片本體（11）上還鑲嵌了測試接觸電極和測試引線接口；所述圓盤狀絕緣載片本體（11）為圓盤狀，圓盤狀絕緣載片本體（11）上的測試接觸電極是由若干環狀導電材料（12）構成，各環狀導電材料（12）之間相互絕緣，分別鑲嵌在圓盤狀絕緣載片本體（11）上；在每一個所述環狀導電材料（12）上部的環形平面中心加工有一條環形真空槽（13），在每一條環形真空槽（13）上加工有一個真空通孔（16）；真空通孔（16）的下部連通一條處于圓盤狀絕緣載片本體（11）內的內部通孔（15）；內部通孔（15）使每個所述環狀導電材料（12）上的真空通孔（16）相互貫通；內部通孔（15）的一端延伸至圓盤狀絕緣載片本體（11）體外與真空接口（17）連接；所述圓形絕緣載片本體（11）的下部加工有與各環狀導電材料（12）位置對應的槽位，在槽位對應的環狀導電材料（12）上加工螺孔，?螺孔中安裝螺絲（19），螺絲（19）的一端通到槽位下方，與大電流引線（21）固定；所述圓形絕緣載片本體（11）的下部固定有4個測試引線接口（18）和過線通孔（20），4個測試引線接口（18）穿過穿線通孔（20）分別與對應的大電流引線（21）連接；每塊環狀導電材料（12）對應連接一條引線（21），若干個引線（21）分成兩組，分別作為開爾文測試電路的LI引線和LV引線，每組內的引線（21）連接到對應的測試引線接口（18）。

2.如權利要求1所述開爾文測試載片臺，其特征在于：每塊環狀導電材料（12）均需要安裝引線（21），這些引線（21）可以分成兩組，分別作為開爾文測試電路的LI引線和LV引線，每組內的引線既可以并聯后連接到對應的測試引線接口（18），也可以分開單獨連接對應的到測試引線接口（18）。

3.如權利要求1所述開爾文測試載片臺，其特征在于：圓盤狀絕緣載片本體（11）上鑲嵌的環狀導電材料（12）的材料為銅塊或鍍金鎳。