[發明專利]薄膜太陽能電池及其制作方法有效
| 申請號: | 201110441126.9 | 申請日: | 2011-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN102569442A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 彭洞清;方嘉鋒 | 申請(專利權)人: | 彭洞清 |
| 主分類號: | H01L31/032 | 分類號: | H01L31/032;H01L31/0352;H01L31/18 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 湯保平 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄膜 太陽能電池 及其 制作方法 | ||
1.一種薄膜太陽能電池,包括:
一基板;
一第一電極,設置于該基板上;
一阻擋層,設置于該第一電極上,其中該阻擋層的材料為一導電材料;
一歐姆接觸層,設置于該阻擋層上;
一吸收層,設置于該歐姆接觸層上;
一緩沖層,設置于該吸收層上;
一透明導電層,設置于該緩沖層上;以及
一第二電極,設置于該透明導電層上。
2.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該阻擋層的材料為Al、La、Ta、Ir、Os、或其合金。
3.如權利要求2所述的薄膜太陽能電池,其中該阻擋層的材料為Al、La、或其合金。
4.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該阻擋層的材料摻雜有B、Al、或Ga。
5.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該歐姆接觸層為一硒化鉬層。
6.如權利要求5所述的薄膜太陽能電池,其中該歐姆接觸層的厚度為1-150nm。
7.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該第一電極為一鉬電極。
8.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該基板為一玻璃基板、一金屬基板、或一塑料基板。
9.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該金屬基板為一不銹鋼基板、一鈦基板、一銅基板、或一鉬基板。
10.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該吸收層為CIS吸收層、CIGS吸收層、CZTS吸收層、或CIAS吸收層。
11.如權利要求1所述的薄膜太陽能電池,其中該透明導電層的材料為ITO、經Al摻雜的ZnO、或經In摻雜的ZnO。
12.一種薄膜太陽能電池的制作方法,包括下列步驟:
(A)提供一基板;
(B)形成一第一電極于該基板上;
(C)形成一阻擋層于該第一電極上,其中該阻擋層的材料為一導電材料;
(D)形成一含鉬金屬層于該阻擋層上;
(E)形成一吸收層前趨物于該含鉬金屬層上,并進行一硒化工藝或一硫化工藝,以反應該吸收層前趨物形成一吸收層,且反應該含鉬金屬層形成一歐姆接觸層;
(F)形成一緩沖層于該吸收層上;
(G)形成一透明導電層于該緩沖層上;以及
(H)形成一第二電極于該透明導電層上。
13.如權利要求12所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該阻擋層的材料為Al、La、Ta、Ir、Os、或其合金。
14.如權利要求13所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該阻擋層的材料為Al、La、或其合金。
15.如權利要求12所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該阻擋層的材料摻雜有B、Al、或Ga。
16.如權利要求12所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該含鉬金屬層為一鉬層,且該歐姆接觸層是為一硒化鉬層。
17.如權利要求16所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該歐姆接觸層的厚度為1-150nm。
18.如權利要求12所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該第一電極為一鉬電極。
19.如權利要求12所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該基板為一玻璃基板、一金屬基板、或一塑料基板。
20.如權利要求19所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該金屬基板為一不銹鋼基板、一鈦基板、一銅基板、或一鉬基板。
21.如權利要求12所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該吸收層為CIS吸收層、CIGS吸收層、CZTS吸收層、或CIAS吸收層。
22.如權利要求12所述的薄膜太陽能電池的制作方法,其中該透明導電層的材料為ITO、經Al摻雜的ZnO、或經In摻雜的ZnO。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
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