[發明專利]眼測定裝置

有效

• 申請號: 201110441015.8
• 申請日: 2011-12-26
• 公開（公告）號: CN102525399A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 中村健二;鄉野光宏
• 申請（專利權）人: 尼德克株式會社
• 主分類號: A61B3/032
• 分類號: A61B3/032;A61B3/103;A61B3/14
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 周善來;李雪春

1.一種眼測定裝置，其特征在于包括：

主觀測定用光學系統，包括用于向受檢眼呈現的視標和向所述受檢眼照射眩光的眩光光源，用于以主觀的方式測定所述受檢眼；以及

控制部，判斷在所述受檢眼的眼介質中有無混濁，在判斷為有混濁的情況下，顯示需要進行眩光測試，該眩光測試是在向所述受檢眼照射眩光的狀態下的主觀測定。

2.根據權利要求1所述的眼測定裝置，其特征在于，所述眼測定裝置還包括輸入單元，該輸入單元接收執行所述眩光測試的指示，

所述控制部根據所述指示的輸入，控制所述主觀測定用光學系統來執行所述眩光測試。

3.根據權利要求1所述的眼測定裝置，其特征在于，所述眼測定裝置還包括顯示單元，該顯示單元用于顯示信息，

所述控制部在判斷為有混濁的情況下，使表示需要進行所述眩光測試的信息在所述顯示單元上顯示。

4.根據權利要求1所述的眼測定裝置，其特征在于，所述控制部在判斷為有混濁的情況下，在執行不向所述受檢眼照射眩光的狀態下的主觀測定后，顯示需要進行所述眩光測試。

5.根據權利要求1所述的眼測定裝置，其特征在于，所述眼測定裝置還包括攝像光學系統，該攝像光學系統拍攝所述受檢眼的前眼部的透照圖像，

所述控制部通過對拍攝到的透照圖像進行處理，判斷在所述受檢眼的眼介質中有無混濁。

6.根據權利要求1所述的眼測定裝置，其特征在于，所述眼測定裝置還包括客觀測定用光學系統，該客觀測定用光學系統包括：照射光學系統，向所述受檢眼的眼底照射測定光；以及受光光學系統，具備受光元件，該受光元件接收通過由眼底反射所述測定光而得到的眼底反射光，所述客觀測定用光學系統用于以客觀的方式測定所述受檢眼的眼屈光力，

所述控制部根據來自所述受光元件的受光信號，判斷在所述受檢眼的眼介質中有無混濁。

7.根據權利要求6所述的眼測定裝置，其特征在于，所述控制部在判斷為有混濁的情況下，在執行所述客觀測定后，顯示需要進行所述眩光測試。

8.根據權利要求6所述的眼測定裝置，其特征在于，所述控制部根據所述受光信號的亮度是否超過規定的閾值及所述受光信號的半寬度是否超過規定的閾值中的至少任意一個，判斷在所述受檢眼的眼介質中有無混濁。

9.根據權利要求6所述的眼測定裝置，其特征在于，

所述受光光學系統通過二維受光元件接收環形的眼底反射光，

所述控制部通過對由所述二維受光元件接收到的環形圖像進行處理，判斷在所述受檢眼的眼介質中有無混濁。

10.一種眼測定裝置，其特征在于包括：

主觀測定用光學系統，包括用于向受檢眼呈現的視標和向所述受檢眼照射眩光的眩光光源，用于以主觀的方式測定所述受檢眼；以及

控制部，判斷在所述受檢眼的眼介質中有無混濁，在判斷為有混濁的情況下，控制所述主觀測定用光學系統來執行眩光測試，該眩光測試是在向所述受檢眼照射眩光的狀態下的主觀測定。

11.根據權利要求10所述的眼測定裝置，其特征在于，所述控制部在判斷為有混濁的情況下，在執行不向所述受檢眼照射眩光的狀態下的主觀測定后，執行所述眩光測試。

12.根據權利要求10所述的眼測定裝置，其特征在于，所述眼測定裝置還包括攝像光學系統，該攝像光學系統拍攝所述受檢眼的前眼部的透照圖像，

所述控制部通過對拍攝到的透照圖像進行處理，判斷在所述受檢眼的眼介質中有無混濁。

13.根據權利要求10所述的眼測定裝置，其特征在于，所述眼測定裝置還包括輸入單元，該輸入單元接收執行所述眩光測試的指示，

所述控制部根據所述指示的輸入，控制所述主觀測定用光學系統來執行所述眩光測試。

14.根據權利要求13所述的眼測定裝置，其特征在于，所述眼測定裝置還包括顯示單元，該顯示單元用于顯示信息，

所述控制部在判斷為有混濁的情況下，使表示需要進行所述眩光測試的信息在所述顯示單元上顯示。