[發明專利]光學觸控裝置及其邊框

有效

• 申請號: 201110440579.X
• 申請日: 2011-12-26
• 公開（公告）號: CN103135856B
• 公開（公告）日: 2017-06-16
• 發明（設計）人: 黃博亮;簡士哲
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 陳小雯

技術領域

本發明涉及一種光學觸控裝置及其邊框，尤其是涉及一種可有效抑制背景雜訊的邊框，其適用于光學觸控裝置。

背景技術

由于目前的消費性電子產品皆以輕、薄、短、小為設計的方向，因此，產品上已無空間容納如鼠標、鍵盤等傳統輸入的工具。隨著觸控裝置技術的進步，在各種消費性電子產品中，例如顯示器、一體機(All in One)、移動電話、個人數字助理(Personal Digital Assistant，PDA)等產品已廣泛地使用觸控裝置作為其數據輸入的工具。目前，光學觸控裝置相較其他觸控技術，如電阻式、電容式、超音波式或投影影像式等，有更低成本與更易達成的優勢。

一般常見的光學觸控裝置是利用發光單元提供光源照射在觸控物件(例如，手指或觸控筆)上。待觸控物件反光，再經由影像感測單元接收反光并成像。觸控物件的反光信號與背景雜訊的可分辨性的高低正是影像處理演算法難易的關鍵因素之一。明言之，信號的可分辨性愈高，則影像處理演算法就愈容易處理與掌握，反之，則影像處理演算法會變得更復雜，且需動用更高階的運算處理器。

一般而言，光學觸控裝置中的邊框是決定背景雜訊強弱的因素之一。請參閱圖1以及圖2，圖1為先前技術的邊框1的示意圖，圖2為由圖1中的邊框1量測得到的訊雜比的分布圖。如圖1所示，邊框1呈三角柱狀。如圖2所示，由邊框1量測得到的訊雜比來看，其背景雜訊顯得非常大且紊亂，亦即邊框1對背景雜訊的抑制效果不佳。

發明內容

本發明的目的在于提供一種可有效抑制背景雜訊的邊框，其適用于光學觸控裝置，以解決上述的問題。

根據一實施例，本發明的光學觸控裝置包含一指示平面、一影像感測單元、一發光單元以及一邊框。指示平面上定義一感測區。影像感測單元設置于指示平面的一角落。發光單元設置于影像感測單元旁，用以發出光線進入感測區。邊框設置于指示平面的一側。邊框包含兩個第一斜面，其中此兩個第一斜面相互鄰接且面向感測區。

根據另一實施例，本發明的邊框適用于一光學觸控裝置。邊框包含兩個第一斜面，且兩個第一斜面相互鄰接。

根據另一實施例，本發明的光學觸控裝置包含一指示平面、一影像感測單元、一發光單元以及一邊框。指示平面上定義一感測區。影像感測單元設置于指示平面的一角落。發光單元設置于影像感測單元旁，用以發出光線進入感測區。邊框設置于指示平面的一側。邊框包含多個曲面，其中曲面間隔排列且面向感測區。

根據另一實施例，本發明的邊框適用于一光學觸控裝置。邊框包含多個曲面，其中曲面間隔排列。

綜上所述，本發明是將邊框面向感測區的一側設計成相互鄰接的斜面或間隔排列的曲面。換言之，本發明是利用復合斜面或曲面的散射與反射特性，以使反射光偏離影像感測單元。由于反射光是背景雜訊的形成主因，因此，使反射光偏離即可有效抑制背景雜訊。

關于本發明的優點與精神可以通過以下的發明詳述及所附附圖得到進一步的了解。

附圖說明

圖1為先前技術的邊框的示意圖；

圖2為由圖1中的邊框量測得到的訊雜比的分布圖；

圖3為根據本發明一實施例的光學觸控裝置的示意圖；

圖4為圖3中的光學觸控裝置沿X-X線的局部剖面圖；

圖5為由圖4中的邊框量測得到的訊雜比的分布圖；

圖6為根據本發明另一實施例的邊框設置于指示平面的一側的局部剖面圖；

圖7為由圖6中的邊框量測得到的訊雜比的分布圖；

圖8為根據本發明另一實施例的邊框設置于指示平面的一側的局部剖面圖；

圖9為根據本發明另一實施例的邊框設置于指示平面的一側的示意圖。

主要元件符號說明

具體實施方式

請參閱圖3至圖5，圖3為根據本發明一實施例的光學觸控裝置3的示意圖，圖4為圖3中的光學觸控裝置3沿X-X線的局部剖面圖，圖5為由圖4中的邊框36量測得到的訊雜比的分布圖。如圖3所示，光學觸控裝置3包含一指示平面30、兩個影像感測單元32、兩個發光單元34以及三邊框36。指示平面30上定義一感測區300。兩個影像感測單元32分別設置于指示平面30的相對兩個角落。兩個發光單元34分別設置于兩個影像感測單元32旁，用以發出光線進入感測區300。三邊框36分別設置于指示平面30的三側，用以使反射光偏離影像感測單元32，進而抑制背景雜訊的產生。