[發(fā)明專利]二極管SF芯片的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110440409.1 | 申請日: | 2011-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN102569044A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 柴鳳玉 | 申請(專利權(quán))人: | 常州星海電子有限公司;常州星海科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/228 | 分類號: | H01L21/228;H01L21/329;C25D13/06;C25D13/12 |
| 代理公司: | 常州市維益專利事務(wù)所 32211 | 代理人: | 何學(xué)成 |
| 地址: | 213022 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二極管 sf 芯片 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及二極管制造領(lǐng)域,特別是涉及一種二極管SF芯片的制造方法。
背景技術(shù)
目前半導(dǎo)體行業(yè)中生產(chǎn)二極管SF芯片一般采用紙源兩次擴(kuò)散方法,現(xiàn)有技術(shù)存在兩個問題:第一,擴(kuò)散的結(jié)深不平,導(dǎo)致?lián)舸╇妷翰粔蚍€(wěn)定,硬擊穿率低,承受的浪涌能力差;第二,正向壓降較大,從而導(dǎo)致功耗也較大,因此二極管SF芯片在工作中容易會損壞。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供一種可靠性強(qiáng),壽命長的二極管SF芯片的制造方法。
為解決上述問題,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案實現(xiàn):
二極管SF芯片的制造方法,包括如下步驟:
(1)將表面處理后的硅片放在擴(kuò)散爐中,控制擴(kuò)散爐內(nèi)的溫度在1100~1200℃范圍內(nèi),氣體攜帶通入液態(tài)磷源進(jìn)行預(yù)沉積,控制氣體的流速在每小時大概3.5立方,通氣3小時,所述的磷源覆蓋率大于99%;
(2)控制擴(kuò)散爐內(nèi)的溫度在1200~1250℃范圍內(nèi),對步驟(1)中經(jīng)預(yù)沉積后的硅片進(jìn)行擴(kuò)散推進(jìn);
(3)將步驟(2)中經(jīng)擴(kuò)散推進(jìn)的硅片用氫氟酸浸泡后,再用去離子水超聲清洗,以去除其表面的氧化層;
(4)將步驟(3)中得到硅片,將其一面的擴(kuò)散結(jié)N+磨掉,控制硅片的整體厚度在220~240um范圍內(nèi);
(5)將步驟(4)中得到的硅片清洗干凈,采用液態(tài)硼源,控制擴(kuò)散爐內(nèi)的溫度在1200~1250℃范圍內(nèi),進(jìn)行擴(kuò)散成P+,再將其表面進(jìn)行粗面化處理;
(6)將步驟(5)中得到的硅片經(jīng)過超砂、電子清洗劑處理的硅片,在1100~1200℃的氧化爐中氧化;
(7)將步驟(6)中得到的硅片經(jīng)過清洗后,控制鉑擴(kuò)散爐中的溫度在900~910℃的范圍內(nèi),將硅片進(jìn)行金屬鉑的注入;
(8)將步驟(7)中得到的經(jīng)鉑擴(kuò)散后的硅片進(jìn)行涂膠、曝光、顯影、去氧化層,控制混酸溫度在8~12℃范圍內(nèi),利用混酸刻蝕臺面溝槽;
(9)將硅片放在電泳液中進(jìn)行電泳,電泳后將硅片放置于800~820℃的燒結(jié)爐中進(jìn)行燒結(jié);
(10)將步驟(9)中得到的硅片用氫氟酸浸泡后,再用去離子水超聲清洗,以去除其表面的氧化層;
(11)將步驟(10)中經(jīng)去除氧化層得到的硅片進(jìn)行一次鍍鎳處理后,再放在500℃的爐內(nèi)燒1小時后,再進(jìn)行二次鍍鎳處理;
(12)將步驟(11)中經(jīng)二次鍍鎳后的硅片進(jìn)行鍍金處理;
(13)將步驟(12)中經(jīng)鍍金處理的硅片從臺面溝槽處劃成單個芯粒,即得所需二極管SF芯片。
進(jìn)一步的,所述的步驟(6)中的噴砂處理,其噴砂的顆粒為600目金剛砂。
所述的步驟(1)中的液態(tài)磷源選用:三氯化磷。
所述的步驟(2)中的氫氟酸選用濃度為30%的氫氟酸。
所述的步驟(4)中的液態(tài)硼源選用配比為:氧化硼∶無水乙醇為3∶7的混合物。
所述的步驟(6)中的電子清洗劑處理,其清洗劑選用型號為051哈摩粉。
所述的步驟(7)中的金屬鉑的注入,其金屬鉑選用比例為鉑金水∶異丙醇為1∶9的混合物。
所述的步驟(8)中的混酸選用配比為硝酸∶氫氟酸∶冰乙酸∶硫酸為9∶9∶12∶4的混酸。
所述的步驟(9)中的電泳液為:93.75%的異丙醇與6.25%的聚乙烯蠟的混合液,并在每10升的混合液中添加375克玻璃粉即為所需的電泳液,其電泳液所需的時間根據(jù)臺面溝槽序沉積的玻璃重量設(shè)置。
所述的步驟(10)中的氫氟酸選用濃度為10%的氫氟酸。
本發(fā)明提供的技術(shù)方案中,采用氣體攜帶通入液態(tài)磷源可以讓磷源均勻的附著在硅片的表面上;為控制硅片的電性達(dá)到一致性,從而控制硅片的整體厚度在220~240um范圍內(nèi);采用降低硼擴(kuò)散源濃度提高硼擴(kuò)散源純度的方法,提高了快速恢復(fù)二極管的承受浪涌能力;采用電泳的玻璃鈍化工藝,提高了耐壓的穩(wěn)定性,可靠性;減小了反向恢復(fù)時間,提高了開關(guān)的速度。
本發(fā)明的有益效果在于:采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案,能夠提高擴(kuò)散結(jié)的平坦度,加強(qiáng)擊穿電壓的均一性、穩(wěn)定性,同時減小了壓降,降低了功耗,增加了二極管的可靠性和使用壽命。
具體實施方式
下面結(jié)合具體實施例,對本發(fā)明做詳細(xì)的描述。
實施例1
二極管SF芯片的制造方法,包括如下步驟:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





