[發明專利]USB芯片硅片級自動測試儀及測試方法

有效

• 申請號: 201110440233.X
• 申請日: 2011-12-23
• 公開（公告）號: CN103176119A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 朱淵源
• 申請（專利權）人: 上海華虹NEC電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司 31211
• 代理人: 丁紀鐵

1.一種USB芯片硅片級自動測試儀，用于USB芯片的硅片級測試，其特征在于，包括：測試通道、失效數據存儲器、隨機存儲器、非歸零反相解碼模塊、數據文件和測試程序；

所述測試通道包括多個并用于和一個或多個USB芯片相連接，其中每兩個所述測試通道連接一個所述USB芯片，所述測試通道用于接收各所述USB芯片返回的握手響應信號或數據；

所述失效數據存儲器和所述測試通道連接并用于接收和儲存所述握手響應信號或數據；

所述隨機存儲器和所述失效數據存儲器連接并用于接收和儲存所述握手響應信號或數據；

所述非歸零反相解碼模塊和所述隨機存儲器相連接并用于接收所述握手響應信號或數據以及對所述握手響應信號或數據進行解碼；

所述數據文件接收并存儲所述非歸零反相解碼模塊輸出的解碼數據；

所述測試程序用于讀取所述數據文件中的各所述解碼數據并將各所述解碼數據分別與期待值作比較確定測試結果。

2.如權利要求1所述USB芯片硅片級自動測試儀，其特征在于：各所述USB芯片的DP信號管腳和DM信號管腳都分別連接一個所述測試通道。

3.如權利要求1所述USB芯片硅片級自動測試儀，其特征在于：所述握手響應信號或數據的握手響應信號包括ACK、NAK、STALL，所述握手響應信號或數據的數據流類型包括控制數據傳送、批量數據傳送、中斷數據傳送、同步數據傳送四種類型。

4.如權利要求1所述USB芯片硅片級自動測試儀，其特征在于：所述測試程序中如果各所述解碼數據與期待值一致，則各所述解碼數據所對應的所述USB芯片測試通過；如果各所述解碼數據與期待值不一致，則各所述解碼數據所對應的所述USB芯片測試失敗。

5.如權利要求1所述USB芯片硅片級自動測試儀，其特征在于：所述測試通道還用于建立標記及發送數據；所述測試程序還用于控制所述測試通道建立標記及發送數據、以及接收握手響應信號或數據。

6.一種使用如權利要求1所述的USB芯片硅片級自動測試儀的USB芯片硅片級測試方法，其特征在于，采用如下步驟對各所述USB芯片的握手響應信號或數據進行測試：

步驟一、通過所述測試通道將各所述USB芯片的握手響應信號或數據存儲到所述失效數據存儲器中；

步驟二、將各所述USB芯片的握手響應信號或數據從所述失效數據存儲器同步傳輸到所述隨機存儲器中；

步驟三、用所述非歸零反相解碼模塊從所述隨機存儲器讀取各所述USB芯片的握手響應信號或數據，用所述非歸零反相解碼模塊對各所述USB芯片的握手響應信號或數據進行解碼；

步驟四、將所述非歸零反相解碼模塊解碼后的解碼數據保存到數據文件中；

步驟五、所述測試程序讀取所述數據文件中的各所述解碼數據并將各所述解碼數據分別與期待值作比較確定測試結果。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于：所述握手響應信號或數據的握手響應信號包括ACK、NAK、STALL，所述握手響應信號或數據的數據流類型包括控制數據傳送、批量數據傳送、中斷數據傳送、同步數據傳送四種類型。

8.如權利要求6所述的方法，其特征在于：步驟五中如果各所述解碼數據與期待值一致，則各所述解碼數據所對應的所述USB芯片測試通過；如果各所述解碼數據與期待值不一致，則各所述解碼數據所對應的所述USB芯片測試失敗。

9.如權利要求6或8所述的方法，其特征在于：所述期待值是根據USB芯片的功能仿真結果確定的。

10.如權利要求6所述的方法，其特征在于：步驟一之前還包括通過所述測試程序控制所述測試通道建立標記及發送數據到所述USB芯片的步驟，以及所述USB芯片收到所述測試通道發送的數據后返回握手響應信號或數據的步驟。