[發(fā)明專(zhuān)利]基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110440180.1 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-23 | 
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102495351A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-06-13 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃卓磊;王瑋冰 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 江蘇物聯(lián)網(wǎng)研究發(fā)展中心 | 
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 
| 代理公司: | 無(wú)錫市大為專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所 32104 | 代理人: | 殷紅梅 | 
| 地址: | 214135 江蘇省無(wú)錫市新區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 | 
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 技術(shù) 傳感器 陣列 讀出 電路 | ||
1.?一種基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:包括全差分輸入級(jí)(1),所述全差分輸入級(jí)(1)的輸入端與信號(hào)調(diào)制開(kāi)關(guān)(4),全差分輸入級(jí)(1)的輸出端通過(guò)信號(hào)解調(diào)開(kāi)關(guān)(5)與差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)相連,所述差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)通過(guò)第一補(bǔ)償電容(C1)與輸出緩沖級(jí)(3)的輸出端相連,且差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)的輸出端與輸出緩沖級(jí)(3)的反相端相連,差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)的同相端通過(guò)第二補(bǔ)償電容(C2)與輸出緩沖級(jí)(3)的輸出端相連;差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)的反相端通過(guò)第三補(bǔ)償電容(C3)接地,輸出緩沖級(jí)(3)的同相端接地。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述全差分輸入級(jí)(1)采用全差分共源共柵及共模反饋的運(yùn)算放大器,所述全差分輸入級(jí)(1)將信號(hào)調(diào)制開(kāi)關(guān)(4)調(diào)制成的高頻信號(hào)進(jìn)行高增益放大及噪聲隔離后通過(guò)信號(hào)解調(diào)開(kāi)關(guān)(5)輸入值差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)。
3.根據(jù)權(quán)利要求或2所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述全差分輸入級(jí)(1)的增益不小于100dB。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述輸出緩沖級(jí)(3)采用AB類(lèi)運(yùn)算放大器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述信號(hào)調(diào)制開(kāi)關(guān)(4)包括兩組由第一CMOS開(kāi)關(guān)(phase1)和第二CMOS開(kāi)關(guān)(phase2)構(gòu)成的調(diào)制開(kāi)關(guān),所述兩組調(diào)制開(kāi)關(guān)分別與全差分輸入級(jí)(1)的輸入端對(duì)應(yīng)連接;每組調(diào)制開(kāi)關(guān)內(nèi)對(duì)應(yīng)的第一CMOS開(kāi)關(guān)(phase1)與第二CMOS開(kāi)關(guān)(phase2)分別由正相和反相時(shí)鐘控制。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述信號(hào)解調(diào)開(kāi)關(guān)(5)包括兩組由第三CMOS開(kāi)關(guān)(phase3)和第四CMOS開(kāi)關(guān)(phase4)構(gòu)成的解調(diào)開(kāi)關(guān),所述兩組解調(diào)開(kāi)關(guān)分別與差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)的輸入端對(duì)應(yīng)連接,每組解調(diào)開(kāi)關(guān)內(nèi)對(duì)應(yīng)的第三CMOS開(kāi)關(guān)(phase3)與第四CMOS開(kāi)關(guān)(phase4)分別由正相和反相時(shí)鐘控制。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)采用差分輸入單端輸出并采用電流鏡負(fù)載的運(yùn)算放大器。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述第一CMOS開(kāi)關(guān)(phase1)和第二CMOS開(kāi)關(guān)(phase2)采用最小工藝尺寸制造的CMOS開(kāi)關(guān)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述第三CMOS開(kāi)關(guān)(phase3)和第四CMOS開(kāi)關(guān)(phase4)采用最小工藝尺寸制造的CMOS開(kāi)關(guān)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斬波技術(shù)的傳感器陣列讀出電路,其特征是:所述輸出緩沖級(jí)(3)將差分至單端信號(hào)轉(zhuǎn)換級(jí)(2)輸出的功率傳輸給讀出電路的電阻或電容負(fù)載。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 防止技術(shù)開(kāi)啟的鎖具新技術(shù)
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