[發明專利]一種涂漿機上漿量檢測裝置及方法

無效

• 申請號: 201110437250.8
• 申請日: 2011-12-23
• 公開（公告）號: CN102553787A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 程良倫;黃曼;黃雙歡;黃加異;田剛
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: B05C11/02
• 分類號: B05C11/02;B05C1/08;G01B11/06
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 林麗明

1.一種涂漿機上漿量檢測裝置，包括涂漿輥（1）、控漿輥（2）、漿盆（3），其特征在于，還包括用于檢測涂漿輥（1）上涂漿厚度的膜厚計（4）、用于對涂漿輥（1）和控漿輥（2）進行位置調整的運動執行機構（5）、用于接收膜厚計（4）數據并對運動執行機構（5）進行控制的系統控制器（6），所述膜厚計（4）設置在涂漿輥（1）和控漿輥（2）的上方，膜厚計（4）與系統控制器（6）連接，系統控制器（6）與運動執行機構（5）連接，運動執行機構（5）與涂漿輥（1）、控漿輥（2）連接。

2.根據權利要求1所述的涂漿機上漿量檢測裝置，其特征在于，所述膜厚計（4）為P偏光方式紅外線膜厚計。

3.根據權利要求1或2所述的涂漿機上漿量檢測裝置，其特征在于，所述系統控制器還連接有用于顯示系統控制器數據的顯示器（7）。

4.一種涂漿機上漿量檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

涂漿輥（1）轉動經過漿盆（3）沾上漿料（8），再經過控漿輥（2）進行刮漿處理；

利用膜厚計（4）對涂漿輥（1）上的涂漿厚度進行實時檢測；

膜厚計（4）將檢測到的涂漿厚度實時數據發送給系統控制器（6）；

涂漿輥（1）將漿料涂在單面瓦楞紙（9）上，單面瓦楞紙（9）與面紙（10）進行粘合；

系統控制器（6）根據接收到的涂漿厚度計算出涂漿實測厚度與標準厚度的偏差值；

運動執行機構（5）根據偏差值調整涂漿輥（1）與控漿輥（2）之間的間隙；

調整后的涂漿輥（1）進行下一次的沾漿料操作。

5.根據權利要求4所述的涂漿機上漿量檢測方法，其特征在于，所述膜厚計（4）為P偏光方式紅外線膜厚計。

6.根據權利要求5所述的涂漿機上漿量檢測方法，其特征在于，所述P偏光方式紅外線膜厚計對涂漿輥（1）上漿量進行實時檢測前還需進行如下步驟：

利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同材料的漿料進行實驗檢測，獲取不同材料的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應關系；

利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同濃度的漿料進行實驗檢測，獲取不同濃度的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應關系；

根據獲取的對應關系和要進行實時檢測的漿料的材料、濃度設置要進行實時檢測的P偏光方式紅外線膜厚計的位置。

7.根據權利要求4所述的涂漿機上漿量檢測方法，系統控制器（6）中的數據通過顯示器（8）顯示。

8.根據權利要求4至7任一項所述的涂漿機上漿量檢測方法，其特征在于，膜厚計（4）對上漿量厚度的檢測為在線檢測或離線檢測。