[發明專利]電流驅動主動矩陣有機發光二極管顯示器的電壓編程方案

有效

• 申請號: 201110434894.1
• 申請日: 2005-06-28
• 公開（公告）號: CN102426822A
• 公開（公告）日: 2012-04-25
• 發明（設計）人: A.內森;R.黃;S.亞歷山大
• 申請（專利權）人: 伊格尼斯創新有限公司
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 丁藝;沙捷

1.一種用于驅動具有多個薄膜晶體管和有機發光二極管的像素電路的系統，包括：

采樣器，用于從所述像素電路的數據節點采樣對所述像素電路編程需要的電壓；

編程電路，其根據所述的采樣電壓和視頻數據信息通過所述數據節點對所述像素電路編程。

2.如權利要求1所述的系統，還包括：

電流源，用于在校準模式過程中為所述像素電路提供電流；和

查詢表，用于存儲表示應用到所述數據節點的編程電流和與所述電流相關的所述采樣電壓之間的關系的電流/電壓信息。

3.如權利要求1或2所述的系統，還包括：

校正計算模塊，其根據所述電流/電壓信息校正來自數據源的數據，所述電流/電壓信息通過在寫模式過程中用電流對所述數據節點編程和在所述寫模式過程中從所述數據節點采樣對所述電流編程需要的電壓來獲得，其中與所述經校正的數據相關的電壓通過所述數據節點被應用到所述像素電路。

4.如權利要求1-3中任一項所述的系統，還包括：

查詢表，用于存儲表示電流和通過所述數據節點將所述電流編程進所述像素電路必需的電壓之間的關系的電流/電壓曲線；和

至少一個模塊，配置成：

根據與顯示在所述像素電路上的信息相關的所述采樣電壓校正所述電流/電壓曲線，以及

在寫模式過程中，根據所述電流/電壓曲線確定要編程的電壓。

5.如權利要求2或4所述的系統，其中為每個像素電路創建所述查詢表。

6.如權利要求1-5中任一項所述的系統，其中所述多個薄膜晶體管包括驅動薄膜晶體管，所述系統還包括：

根據所述經校正的電流/電壓曲線提取所述驅動薄膜晶體管的閾值電壓偏移的模塊。

7.如權利要求1-5中任一項所述的系統，其中所述多個薄膜晶體管包括驅動薄膜晶體管，所述系統還包括：

根據通過所述數據節點進行電流編程獲得的采樣電壓提取所述驅動薄膜晶體管的閾值電壓偏移的模塊。

8.如權利要求1-7中任一項所述的系統，其中所述系統適用于電流編程像素電路或電壓編程像素電路。

9.如權利要求1-8中任一項所述的系統，其中所述多個薄膜晶體管的材料包括不定形硅、多晶硅(n型或P型)、晶體硅，或有機薄膜晶體管。

10.如權利要求1-9中任一項所述的系統，其中所述有機發光二極管包括NIP或PIN有機發光二極管，且可位于一個或多個驅動薄膜晶體管的源極或漏極中。

11.如權利要求1-10中任一項所述的系統，其中所述有機發光二極管材料包括熒光材料、磷光材料、聚合體材料、或樹枝狀高分子材料。

12.一種驅動具有多個薄膜晶體管和有機發光二極管的像素電路的方法，包括：

從所述像素電路的數據節點采樣對所述像素電路編程需要的電壓；

根據所述的采樣電壓和視頻數據信息通過所述數據節點對所述像素電路編程。

13.如權利要求12所述的方法，還包括：

啟用校準模式，并且對所述像素電路執行電流編程方案，

其中所述采樣步驟在所述校準模式過程中執行采樣操作。

14.如權利要求12或13中任一項所述的方法，還包括：

根據采樣，創建存儲電流/電壓校正信息的查詢表，該電流/電壓校正信息表示通過所述數據節點對所述像素編程所用的電流和與所述電流相關的所述采樣電壓，

所述編程步驟包括根據所述電流/電壓校正信息校正來自數據源的數據的步驟。

15.如權利要求12至14中任一項所述的方法，還包括：

存儲表示電流和將所述電流編程進所述像素電路必需的電壓的電流/電壓校正信息，和

根據與當前顯示在所述像素電路上的信息相關的所述采樣電壓校正所述電流/電壓校正信息。