[發(fā)明專利]使用針孔狹縫的被動多軸差分吸收光譜儀系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110434181.5 | 申請日: | 2011-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN102565003A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周海金;劉文清;司福祺;江宇;謝品華 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院安徽光學(xué)精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01N21/53 | 分類號: | G01N21/53 |
| 代理公司: | 安徽合肥華信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34112 | 代理人: | 余成俊 |
| 地址: | 230031 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 針孔 狹縫 被動 多軸差分 吸收 光譜儀 系統(tǒng) | ||
1.一種使用針孔狹縫的被動多軸差分吸收光譜儀系統(tǒng),包括有望遠鏡、成像光譜儀,其特征在于:所述的望遠鏡包括有兩塊離軸放置的凹面反射鏡,分別為凹面反射鏡一、凹面反射鏡二,所述的望遠鏡采用長條形視場,所述凹面反射鏡一、凹面反射鏡二之間設(shè)有消偏器,所述的成像光譜儀包括入射狹縫、準(zhǔn)直凹面反射鏡、平面光柵、聚焦凹面反射鏡、探測器,所述的成像光譜儀和望遠鏡連接,所述的成像光譜儀的入射狹縫放置在望遠鏡的焦面處;入射光經(jīng)望遠鏡的凹面反射鏡一反射到消偏器,消除偏振態(tài)后入射到凹面反射鏡二上,凹面反射鏡二的反射光聚焦到入射狹縫,經(jīng)入射狹縫進入成像光譜儀,經(jīng)準(zhǔn)直凹面反射鏡準(zhǔn)直,再由平面光柵分光后,通過聚焦凹面反射鏡聚焦到CCD探測器上,所述CCD探測器外接計算機。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的使用針孔狹縫的被動多軸差分吸收光譜儀系統(tǒng),其特征在于:所述的望遠鏡是離軸兩鏡反射式望遠鏡,望遠鏡的中心光軸和水平面成45°夾角。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的使用針孔狹縫的被動多軸差分吸收光譜儀系統(tǒng),其特征在于:所述入射光為長條形視場90°×0.2°范圍內(nèi)的天空散射光。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的使用針孔狹縫的被動多軸差分吸收光譜儀系統(tǒng),其特征在于:所述的消偏器由兩塊石英光楔構(gòu)成,所述的石英光楔楔角相同,光軸相互垂直。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的使用針孔狹縫的被動多軸差分吸收光譜儀系統(tǒng),其特征在于:所述的成像光譜儀的入射狹縫為針孔狹縫,所述的入射狹縫沿高度方向排列了多個針孔,所述的針孔是矩形孔,針孔的高度位置和各個觀測角度對應(yīng),針孔的寬度即長軸長度,對應(yīng)成像光譜儀的光譜分辨率,針孔的短軸長度對應(yīng)望遠鏡的水平視場。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





