[發明專利]基于非張量積小波濾波器的部分參考圖像質量評價方法無效
| 申請號: | 201110432506.6 | 申請日: | 2011-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN102496162A | 公開(公告)日: | 2012-06-13 |
| 發明(設計)人: | 丁勇;張淵;謝鵬宇;王肖寧;張曉濛;李楠;夏禹 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 杜軍 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 張量積 濾波器 部分 參考 圖像 質量 評價 方法 | ||
1.基于非張量積小波濾波器的部分參考圖像質量評價方法,其特征在于它包括以下步驟:
步驟(1):輸入參考圖像R和失真圖像D;
步驟(2)建立一組非張量積小波濾波器(NPWFB?,non-tensor?product?wavelet?filter?banks)????????????????????????????????????????????????;
非張量積小波濾波器的建立步驟如下:
對任意給定正整數值,
其中:,
,T為矩陣轉置,
D(z1,z2)?定義如下:
其中為任意實數,;
步驟(3)取尺度為N,N為正整數,利用步驟(2)所建立的一組非張量積小波濾波器,在第尺度上,參考圖像R和失真圖像D經濾波器濾波后,得到參考圖像R的視覺特征圖和失真圖像D的視覺特征圖,其中,;
3-1.參考圖像R經分別濾波后,得到在尺度1上的視覺特征圖;
3-2.對視覺特征圖進行二維三次插值降采樣;
其中,該二維三次插值降采樣分別對水平方向和垂直方向上的4點進行插值,為該4點的偏移量;為二維三次插值濾波器;
3-3.將視覺特征圖進行二維三次插值降采樣后的圖像再次經分別濾波,得到在尺度2上的視覺特征圖;
3-4.將視覺特征圖進行二維三次插值降采樣,并將視覺特征圖二維三次插值降采樣后的圖像再次經分別濾波,得到在尺度3上的視覺特征圖;
3-5.?以此類推,可得到在尺度上的視覺特征圖,將上述步驟中的參考圖像R換為失真圖像D,經過上述步驟,即可得到在尺度上的視覺特征圖;
步驟(4)在尺度上,計算參考圖像R和失真圖像D的視覺差異(visual?difference).
對任意圖像B,其圖像的信息熵為:
其中通過建立直方圖求得;
對任意圖像,其圖像的信息差異為:
因此,在尺度上,參考圖像R和失真圖像D的視覺差異計算如下:
步驟(5)建立圖像質量評價函數VQ;
其中為尺度數,為縮放控制因子,滿足:,VQ值越大,表示失真圖像的質量越高。
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