[發(fā)明專(zhuān)利]PIN二極管及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110431871.5 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103178121A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡君;劉冬華;錢(qián)文生;段文婷;石晶 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/868 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/868;H01L29/06;H01L21/329 |
| 代理公司: | 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁紀(jì)鐵 |
| 地址: | 201206 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | pin 二極管 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體集成電路器件,特別是涉及一種PIN二極管。
背景技術(shù)
普通的二極管由PN結(jié)組成。如果在p型半導(dǎo)體和n型半導(dǎo)體之間加入一層本征(Intrinsic)半導(dǎo)體,這種P-I-N結(jié)構(gòu)的二極管就是PIN二極管。所述本征半導(dǎo)體在理想情況下應(yīng)為絕緣材料,但實(shí)際應(yīng)用中常采用輕摻雜的n型或p型半導(dǎo)體材料,其載流子濃度很低不能提供電流。
PIN二極管廣泛應(yīng)用在射頻領(lǐng)域。例如,可用于微波開(kāi)關(guān)、微波調(diào)制、限幅及數(shù)字移相等微波控制電路中,也可用于射頻開(kāi)關(guān)、低頻整流中。
請(qǐng)參閱圖1,這是一種現(xiàn)有的BiCMOS工藝所制造的PIN二極管的剖面示意圖。在p型硅襯底10之上分別為n型埋層11和n型外延層12。在n型外延層12中具有隔離結(jié)構(gòu)13。在隔離結(jié)構(gòu)13的外側(cè)且在n型外延層12中具有n型重?fù)诫s區(qū)14,該n型重?fù)诫s區(qū)14的底部連接n型埋層11。在兩個(gè)隔離結(jié)構(gòu)13之間且在n型外延層12中具有p型摻雜區(qū)15。在p型摻雜區(qū)15之上具有p型多晶硅16a。在隔離結(jié)構(gòu)13之上具有n型多晶硅16b。p型多晶硅16a和n型多晶硅16b為一整體。在n型重?fù)诫s區(qū)14和p型多晶硅16a之上各有接觸孔電極17及其上方的金屬連線18。
圖1中,重?fù)诫s(摻雜濃度為1×1019~1×1021原子每立方厘米)的p型多晶硅16a和p型摻雜區(qū)15一起作為PIN二極管的p型半導(dǎo)體部分,由接觸孔電極17引出。輕摻雜(摻雜濃度為1×1015~1×1018原子每立方厘米)的n型外延層12作為PIN二極管的本征半導(dǎo)體部分。重?fù)诫s(摻雜濃度為1×1019~1×1021原子每立方厘米)的n型埋層11作為PIN二極管的n型半導(dǎo)體部分,由n型重?fù)诫s區(qū)14(摻雜濃度為1×1019~1×1021原子每立方厘米)和接觸孔電極17引出。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種新型的PIN二極管,同樣可以由BiCMOS工藝制造。為此,本發(fā)明還要提供所述PIN二極管的制造方法。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明PIN二極管為:在p型硅襯底中具有隔離結(jié)構(gòu);在隔離結(jié)構(gòu)底部的p型硅襯底中具有p型贗埋層,作為PIN二極管的p型半導(dǎo)體部分;在兩個(gè)隔離結(jié)構(gòu)之間的p型硅襯底中具有第一n型摻雜區(qū),該第一n型摻雜區(qū)作為PIN二極管的本征半導(dǎo)體部分,其與p型贗埋層相接觸;在兩個(gè)隔離結(jié)構(gòu)之間且在第一n型摻雜區(qū)的表面具有摻雜濃度更高的第二n型摻雜區(qū),在第二n型摻雜區(qū)之上具有n型多晶硅,該第二n型摻雜區(qū)與n型多晶硅一起作為PIN二極管的n型半導(dǎo)體部分;第一接觸孔電極穿越p型多晶硅和隔離結(jié)構(gòu)與p型贗埋層相接觸;第二接觸孔電極與n型多晶硅相接觸。
本發(fā)明所述的PIN二極管的制造方法包括如下步驟:
第1步,在p型硅襯底上刻蝕溝槽,并在溝槽底部注入p型雜質(zhì)以形成p型贗埋層,接著以介質(zhì)材料填充溝槽以形成隔離結(jié)構(gòu);
第2步,在兩個(gè)隔離結(jié)構(gòu)之間的p型硅襯底中注入n型雜質(zhì)并退火,從而形成與p型贗埋層相接觸的第一n型摻雜區(qū);
第3步,在硅片表面淀積一層多晶硅;
第4步,對(duì)兩個(gè)隔離結(jié)構(gòu)之間的多晶硅和n型摻雜區(qū)注入n型雜質(zhì),從而形成n型多晶硅和摻雜濃度大于第一n型摻雜區(qū)的第二n型摻雜區(qū);
第5步,在硅片表面淀積一層層間介質(zhì),采用光刻和刻蝕工藝在層間介質(zhì)、p型多晶硅和隔離結(jié)構(gòu)中刻蝕出底部與p型贗埋層相接觸的第一通孔,還在層間介質(zhì)中刻蝕出底部與n型多晶硅相接觸的第二通孔,在通孔中填充金屬形成接觸孔電極。
本發(fā)明PIN二極管及其制造方法可由BiCMOS工藝實(shí)現(xiàn),并且省略了現(xiàn)有PIN二極管中的埋層和外延層工藝,因而降低了制造成本。另外,本發(fā)明PIN二極管還可通過(guò)調(diào)整版圖結(jié)構(gòu),從而具有較低的串聯(lián)電阻,并使各方向的電流均勻。
附圖說(shuō)明
圖1是一種現(xiàn)有的PIN二極管的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明PIN二極管的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3a、圖3b是本發(fā)明PIN二極管的兩種版圖結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4a~圖4d是本發(fā)明PIN二極管的制造方法的各步驟示意圖。
圖中附圖標(biāo)記說(shuō)明:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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